エフェクト顔料によるコーティングを調査するための装置機構及び方法

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：特許業務法人ユニアス国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-162890
公開番号（公開出願番号）：特開2013-029506
出願日： 2012年07月23日
公開日（公表日）： 2013年02月07日
要約：

【課題】表面の光学的特性を調査するための方法を提供する。【解決手段】照射装置2によって表面10に対して所定の入射角a1で照射され、この表面10によって散乱及び/又は反射された放射は表面10に対して所定の検出角度b1をなして配置された、白黒画像を記録する画像記録ユニット4aを有する放射検出装置4に達し、この放射検出装置4は放射の空間分解検出を可能とするように構成した方法である。照射装置2は表面10に向かって第1の波長域W1と、第2の波長域W2の放射を時間的にずらして照射して、画像記録ユニット4aは表面10から散乱及び/又は反射された第1の空間分解画像B1及び第2の空間分解画像B2をそれぞれの波長域の照射に応じて記録する。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

表面(10)の光学的特性を調査するための方法であって、調査されるべき前記表面(10)に向かって放射が照射装置(2)によって前記表面(10)に対して所定の入射角(a1)で照射され、この表面(10)によって散乱及び/又は反射された放射は前記表面(10)に対して所定の検出角度(b1)をなして配置された、白黒画像を記録する画像記録ユニット(4a)を有する放射検出装置(4)に達し、この放射検出装置(4)が該装置に達する放射の空間分解検出を可能とするように構成され、前記照射装置(2)は前記表面(10)に向かって第1の波長域(W1)の放射を照射し、前記画像記録ユニット(4)は前記表面(10)から散乱及び/又は反射されたこの放射の第1の空間分解画像(B1)を記録し、前記照射装置(2)は前記表面(10)に向かって第2の波長域(W2)の放射を照射し、前記画像記録ユニット(4a)は前記表面(10)から散乱及び/又は反射されたこの放射の第2の空間分解画像(B2)を記録し、前記第1の波長域(W1)の放射と、前記第1の波長域(W1)とは少なくとも部分的に異なる前記第2の波長域(W2)の放射とは、前記表面(10)に向かって少なくとも部分的に時間的にずらして照射され、前記第1の波長域(W1)の放射と、前記第2の波長域(W2)の放射とは、前記表面(10)に向かって同一の入射角(a1)で照射されることを特徴とする方法。

IPC (2件)：

G01N 21/27 , G01N 21/47

FI (2件)：

G01N21/27 A , G01N21/47 Z

Fターム (11件)：

2G059AA02 , 2G059AA05 , 2G059BB10 , 2G059EE02 , 2G059FF01 , 2G059GG02 , 2G059HH02 , 2G059JJ02 , 2G059JJ11 , 2G059JJ22 , 2G059KK04

引用特許：

審査官引用 (8件)

光学的表面特性の検査装置および検査方法
公報種別：公開公報出願番号：特願2005-206139 出願人：ビック-ガルトナー・ゲーエムベーハー
物体観測装置および方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-132581 出願人：オムロン株式会社
分光反射率測定装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2002-037293 出願人：株式会社資生堂, スカラ株式会社

全件表示

前のページに戻る