特許
J-GLOBAL ID：201303080181609143

異常検知・診断方法、および異常検知・診断システム

発明者：
前田 俊二

前田 俊二 について

, 
渋谷 久恵

渋谷 久恵 について


出願人/特許権者：
株式会社日立製作所

株式会社日立製作所 について


代理人 (1件)： ポレール特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-178316
公開番号（公開出願番号）：特開2013-041448
出願日： 2011年08月17日
公開日（公表日）： 2013年02月28日
要約：
【課題】プラント等の設備において、異常を高感度、早期に検知することが可能な異常検知・診断方法およびシステムを提供する。【解決手段】設備の運転時間などの稼動情報と、設備に付加した複数センサの出力信号とを用いて異常検知を行い、作業履歴や交換部品情報などの過去の対策事例からなる作業報告書などの保守履歴などを対象に、検知した異常と対策の紐付けを行い、異常検知と過去の保守履歴を結び付け、設備カルテも参照しながら、アクションが必要な異常を分類、提示することにより、診断の精度向上を図るようにした。【選択図】図11A
請求項（抜粋）：
プラント又は設備の異常或いは異常の予兆を検知し、前記プラント又は設備を診断する異常検知・診断方法であって、 前記プラント又は設備に装着した複数のセンサから取得したセンサデータ、および/あるいは運転時間や操作時間などの稼動データを対象に前記プラント又は設備の異常或いは異常の予兆を検知し、 前記プラント又は設備の保守履歴情報を用いて前記プラント又は設備の異常或いは異常の予兆と過去の対策を紐付けし、 該紐付け結果に基づいて、対策が必要な異常或いは異常の予兆を分類、提示する ことを特徴とする異常検知・診断方法。
IPC (1件)：
G05B 23/02
FI (3件)：
G05B23/02 T ,  G05B23/02 302R ,  G05B23/02 302Y
Fターム (5件)：
5H223AA02 ,  5H223DD03 ,  5H223EE06 ,  5H223FF05 ,  5H223FF06
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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