X線画像診断装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：酒井宏明 , 中村友之
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-278013
公開番号（公開出願番号）：特開2003-087656
特許番号：特許第4723767号
出願日： 2001年09月13日
公開日（公表日）： 2003年03月20日
請求項（抜粋）：

【請求項1】行×列の2次元マトリックス状に配列された複数の画素に対応して設けられ、入射したX線を電荷に変換する電荷変換手段と、前記電荷変換手段に対応して設けられ、前記電荷変換手段により変換された電荷を蓄積する電荷蓄積手段と、前記電荷変換手段に対応して設けられ、前記電荷蓄積手段から電荷を読み出すための薄膜トランジスタと、各行方向の複数の前記薄膜トランジスタ同士のゲートを繋いでスイッチングを制御するために設けられた各行少なくとも1本の読出し制御線と、各列方向に複数の前記薄膜トランジスタの前記電荷蓄積手段と異なる側のソース又はドレイン同士を繋いで蓄積された電荷を読み出すように配置された各列2本の信号線と、 X線による電荷の蓄積を妨げるためにX線の遮蔽をして画像補正するための複数列の補正用画素とからなるX線平面検出器を備え、 X線が照射されない複数枚の画像を平均して、オフセット画像を形成するステップと、ある1枚のX線を照射した原画像から、前記オフセット画像を引き、オフセット補正画像を求めるステップと、前記オフセット補正画像の補正用画素領域において、同一時刻にONされた上下2行毎の画素データを平均又は重み付け平均をし、列方向の時間依存性のノイズ成分を求めるステップと、をもって、前記時間依存性のノイズ成分を、前記オフセット補正画像の各列のうち同時刻にONした行に対応した画素から引くことにより、時間依存ノイズを低減補正した画像を得ることができることを特徴とするX線画像診断装置。

IPC (10件)：

H04N 5/32 ( 200 6.01) , G01T 1/00 ( 200 6.01) , G01T 1/24 ( 200 6.01) , G01T 7/00 ( 200 6.01) , H01L 27/146 ( 200 6.01) , H01L 27/14 ( 200 6.01) , H01L 31/09 ( 200 6.01) , H04N 5/357 ( 201 1.01) , H04N 5/374 ( 201 1.01) , A61B 6/00 ( 200 6.01)

FI (10件)：

H04N 5/32 , G01T 1/00 B , G01T 1/24 , G01T 7/00 C , H01L 27/14 C , H01L 27/14 K , H01L 31/00 A , H04N 5/335 570 , H04N 5/335 740 , A61B 6/00 300 S

引用特許：

出願人引用 (6件)

放射線検出器及び放射線診断装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2000-108099 出願人：株式会社東芝
特開昭63-169882
特開平2-164184

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