特許
J-GLOBAL ID:200903031254092604
X線平面検出器及びX線診断システム
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
鈴江 武彦 (外6名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-289308
公開番号(公開出願番号):特開2002-101343
出願日: 2000年09月22日
公開日(公表日): 2002年04月05日
要約:
【要約】【課題】 正常なダーク画素のみを用いて横引き補正を行うX線検出器、及びX線診断システムを提供すること。【解決手段】 X線を検出する画素を二次元マトリックス状に配列したX線平面検出器と、横引き補正処理を行う演算器を有するX線診断システムである。X線平面検出器の画素は、列単位でダーク画素群と正常画素群とからなる。演算器は、ダーク画素群を、欠陥ダーク画素と正常ダーク画素とに判別し、正常ダーク画素からの出力信号のみに基づいて横引きノイズを演算する。そして、演算器は、該横引きノイズを各通常画素からの出力信号から減算することで横引き補正を行うことを特徴とするX線診断システム。
請求項(抜粋):
入射したX線を検出し第1の電気情報を発生する複数の第1の電気情報発生手段と、X線検出防止手段を備え第2の電気情報を発生する複数の第2の電気情報発生手段と、からなるX線検出手段と、読み出された前記各第2の電気情報が第1の電気情報の補正に有効か否かを判別する判別手段と、前記判別手段によって有効と判別された前記第2の電気情報に基づいて、前記第1の電気情報を補正する補正手段と、を具備することを特徴とするX線平面検出器。
IPC (7件):
H04N 5/335
, G01T 1/24
, G01T 7/00
, G06T 1/00 290
, H01L 27/14
, H04N 5/225
, H04N 5/32
FI (8件):
H04N 5/335 R
, G01T 1/24
, G01T 7/00 C
, G06T 1/00 290 A
, H04N 5/225 C
, H04N 5/32
, H01L 27/14 K
, H01L 27/14 Z
Fターム (52件):
2G088EE01
, 2G088EE27
, 2G088FF02
, 2G088FF14
, 2G088GG21
, 2G088JJ05
, 2G088JJ08
, 2G088JJ29
, 2G088KK01
, 2G088KK05
, 2G088KK07
, 2G088KK24
, 2G088KK29
, 2G088KK32
, 2G088LL11
, 2G088LL12
, 4M118AA07
, 4M118AB01
, 4M118DD09
, 4M118DD10
, 4M118FB09
, 4M118FB13
, 4M118FB16
, 4M118GA10
, 4M118GB09
, 5B057AA08
, 5B057BA03
, 5B057BA12
, 5B057CA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB02
, 5B057CB08
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CE02
, 5C022AA08
, 5C022AB19
, 5C022AB37
, 5C022AC42
, 5C022AC69
, 5C024AX11
, 5C024CX03
, 5C024CX23
, 5C024GY31
, 5C024GZ37
, 5C024GZ38
, 5C024HX14
, 5C024HX21
, 5C024HX23
, 5C024HX29
引用特許:
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