特許
J-GLOBAL ID:201303097027609351
X線複合装置
発明者:
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (2件):
福地 武雄
, 白川 洋一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-007385
公開番号(公開出願番号):特開2013-224923
出願日: 2013年01月18日
公開日(公表日): 2013年10月31日
要約:
【課題】一台でX線CT撮影および蛍光X線による元素分析を行うことができるX線複合装置を提供する。【解決手段】X線複合装置100は、コーンビームX線を発生させるX線源110と、コーンビームX線が照射される試料Sを保持する試料台150と、X線源と試料台150との間で、用途に応じてコーンビームX線を絞り平行X線を形成することができるコリメータ部130、140と、試料Sを透過したコーンビームX線を検出する二次元検出器170と、試料Sから放射された蛍光X線を検出する蛍光X線検出器176と、を備え、X線CT撮影に用いられる場合には、コーンビームX線を試料に照射し、蛍光X線分析に用いられる場合には、コリメータ部130、140により形成された平行X線を試料Sに照射する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
コーンビームX線を発生させるX線源と、
前記コーンビームX線が照射される試料を保持する試料台と、
前記X線源と前記試料台との間で、用途に応じて前記コーンビームX線を絞り平行X線を形成することができるコリメータ部と、
前記試料を透過したコーンビームX線を検出する二次元検出器と、
前記試料から放射された蛍光X線を検出する蛍光X線検出器と、を備え、
X線CT撮影に用いられる場合には、前記コーンビームX線を試料に照射し、蛍光X線分析に用いられる場合には、前記コリメータ部により形成された平行X線を試料に照射することを特徴とするX線複合装置。
IPC (3件):
G01N 23/223
, G01N 23/04
, G01N 23/207
FI (3件):
G01N23/223
, G01N23/04
, G01N23/207
Fターム (19件):
2G001AA01
, 2G001BA04
, 2G001BA18
, 2G001CA01
, 2G001DA02
, 2G001DA09
, 2G001EA06
, 2G001GA06
, 2G001GA08
, 2G001GA09
, 2G001GA13
, 2G001HA09
, 2G001HA13
, 2G001HA14
, 2G001PA11
, 2G001PA13
, 2G001PA15
, 2G001SA02
, 2G001SA10
引用特許:
出願人引用 (8件)
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X線断層撮像装置及び方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-293899
出願人:ソニー株式会社
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特許第2853261号
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特開平4-175648
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審査官引用 (10件)
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X線断層撮像装置及び方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2003-293899
出願人:ソニー株式会社
-
特許第2853261号
-
特許第2853261号
-
特開平4-175648
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特許第2829469号
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X線回折及びコンピュータトモグラフィ
公報種別:公開公報
出願番号:特願2011-030013
出願人:パナリティカルビーヴィ
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特許第2829469号
-
X線分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平5-297362
出願人:理学電機工業株式会社
-
全反射蛍光X線分析方法及びその装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-114875
出願人:株式会社神戸製鋼所
-
X線顕微検査装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2002-302537
出願人:株式会社東研
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