特許
J-GLOBAL ID:201303097027609351

X線複合装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 福地 武雄 ,  白川 洋一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-007385
公開番号(公開出願番号):特開2013-224923
出願日: 2013年01月18日
公開日(公表日): 2013年10月31日
要約:
【課題】一台でX線CT撮影および蛍光X線による元素分析を行うことができるX線複合装置を提供する。【解決手段】X線複合装置100は、コーンビームX線を発生させるX線源110と、コーンビームX線が照射される試料Sを保持する試料台150と、X線源と試料台150との間で、用途に応じてコーンビームX線を絞り平行X線を形成することができるコリメータ部130、140と、試料Sを透過したコーンビームX線を検出する二次元検出器170と、試料Sから放射された蛍光X線を検出する蛍光X線検出器176と、を備え、X線CT撮影に用いられる場合には、コーンビームX線を試料に照射し、蛍光X線分析に用いられる場合には、コリメータ部130、140により形成された平行X線を試料Sに照射する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
コーンビームX線を発生させるX線源と、 前記コーンビームX線が照射される試料を保持する試料台と、 前記X線源と前記試料台との間で、用途に応じて前記コーンビームX線を絞り平行X線を形成することができるコリメータ部と、 前記試料を透過したコーンビームX線を検出する二次元検出器と、 前記試料から放射された蛍光X線を検出する蛍光X線検出器と、を備え、 X線CT撮影に用いられる場合には、前記コーンビームX線を試料に照射し、蛍光X線分析に用いられる場合には、前記コリメータ部により形成された平行X線を試料に照射することを特徴とするX線複合装置。
IPC (3件):
G01N 23/223 ,  G01N 23/04 ,  G01N 23/207
FI (3件):
G01N23/223 ,  G01N23/04 ,  G01N23/207
Fターム (19件):
2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA09 ,  2G001EA06 ,  2G001GA06 ,  2G001GA08 ,  2G001GA09 ,  2G001GA13 ,  2G001HA09 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001PA11 ,  2G001PA13 ,  2G001PA15 ,  2G001SA02 ,  2G001SA10
引用特許:
出願人引用 (8件)
全件表示
審査官引用 (10件)
全件表示

前のページに戻る