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J-GLOBAL ID：201402213257160730   整理番号：13A1951785

Fe/MgO界面での大きい垂直磁気異方性

Large perpendicular magnetic anisotropy at Fe/MgO interface

著者 (9件)： KOO J. W. (Graduate School of Pure and Applied Sciences, Univ. of Tsukuba, Tsukuba 305-0006, JPN) ,  MITANI S. (Graduate School of Pure and Applied Sciences, Univ. of Tsukuba, Tsukuba 305-0006, JPN) ,  SASAKI T. T. (National Inst. for Materials Sci., Tsukuba 305-0047, JPN) ,  SUKEGAWA H. (National Inst. for Materials Sci., Tsukuba 305-0047, JPN) ,  WEN Z. C. (National Inst. for Materials Sci., Tsukuba 305-0047, JPN) ,  OHKUBO T. (National Inst. for Materials Sci., Tsukuba 305-0047, JPN) ,  NIIZEKI T. (Graduate School of Pure and Applied Sciences, Univ. of Tsukuba, Tsukuba 305-0006, JPN) ,  INOMATA K. (National Inst. for Materials Sci., Tsukuba 305-0047, JPN) ,  HONO K. (Graduate School of Pure and Applied Sciences, Univ. of Tsukuba, Tsukuba 305-0006, JPN)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 103  号： 19  ページ： 192401-192401-4  発行年： 2013年11月04日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *垂直磁気異方性 ,  *界面 ,  *鉄 ,  *酸化マグネシウム ,  *磁性薄膜 ,  誘電体薄膜 ,  電子ビーム蒸着 ,  バッファ層 ,  クロム ,  焼なまし ,  RHEED ,  電子顕微鏡観察 ,  透過型電子顕微鏡 ,  透過型走査電子顕微鏡 ,  磁化 ,  磁気ヒステリシス
準シソーラス用語： HAADF-STEM ,  強磁性薄膜

分類 (2件)： 金属の磁気異方性・磁気機械効果  (BM06102S) ,  金属薄膜  (BK14030T)

タイトルに関連する用語 (4件)： Fe ,  MgO ,  界面 ,  垂直磁気異方性