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J-GLOBAL ID：201402241447544848   整理番号：14A1055701

イットリウム系高温超電導薄膜のプロセスと微構造解析

著者 (3件)： 寺西亮 (九大 大学院工学研究院) ,  西山武志 (九大 大学院工学府) ,  金子賢治 (九大 大学院工学研究院)
資料名： Journal of the Society of Inorganic Materials, Japan  (Journal of the Society of Inorganic Materials, Japan)
巻： 21  号： 372  ページ： 314-320  発行年： 2014年09月01日 
JST資料番号： F0275A  ISSN： 1345-3769  CODEN： JSIJFR  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 高温超電導体とは,「一般的に約25K以上の臨界温度(Tc)を持つ超電導体」と定義され,その代表例としてイットリウム系高温超電導体(Tc:約90K;REBCO,RE:YorGd)やビスマス系超電導体(Tc:約110K,Bi系)等の酸化物超伝導体がある。本稿では,REBCO線材において溶液塗布(MOD)法による超電導層作製プロセスと,透過型電子顕微鏡(TEM)を用いた構造解析技術について解説する。1)REBCO薄膜作製プロセス;MOD法は真空装置を必要とせず安価で量産性に優れる。これまで3フッ化酢酸塩(TFA)原料溶液に用いたTRA-MOD法にて線材作製に成功した。2)REBCO薄膜線材への磁束ピン止めセンターの導入;臨界電流密度(Jc)は磁束ピン止めセンターによって決定される。人工的な導入手法は,磁束の移動によるJcの低下防止に有効である。3)解析;BaZrO₃(BZO)磁束ピン止めセンターを導入したYGaBCOを解析例として,その磁束ピン止めの微細構造を,TEMを駆使して解析し,磁場中における通電特性との相関を明らかにした。

シソーラス用語： *高温超伝導体 ,  超伝導薄膜 ,  バリウム化合物 ,  希土類元素化合物 ,  金属酸化物 ,  銅化合物 ,  *酸化イットリウム ,  塗布 ,  液体 ,  *薄膜成長 ,  超伝導線 ,  熱分解 ,  *微細構造 ,  電子顕微鏡観察 ,  結晶構造 ,  構造解析 ,  磁束ピン止め ,  臨界電流密度 ,  臨界温度 ,  磁場効果 ,  電子回折 ,  ジルコニウム酸塩 ,  ジルコニウム酸バリウム ,  透過型電子顕微鏡法 ,  *希土類バリウム銅酸化物
準シソーラス用語： EBSD法 ,  *REBCO ,  STEM【顕微鏡】 ,  TFA-MOD法 ,  微細組織

分類 (1件)： 酸化物系超伝導体の物性  (BM04023I)

引用文献 (38件)：

• 北澤宏一, 応用物理, 80, 371-382 (2011).
• M. K. Wu, J. R. Ashburn, C. J. Torng, P. H. Hor, R. L. Meng, L. Gao, Z. J. Huang, Y. Q. Wang, C. W. Chu, Phys. Rev. Lett. 58, 908-910 (1987).
• H. Maeda, Y. Tanaka, M. Fukutomi, T. Asano, Jpn. J. Appl. Phys., 27, L209-L210 (1988).
• 佐藤謙一, 応用物理, 82, 556-565 (2013).
• Y. Shiohara, M. Yoshizumi, Y. Takagi, T. Izumi, Physica C, 484, 1-5 (2013).

タイトルに関連する用語 (5件)： イットリウム ,  高温超電導 ,  薄膜 ,  プロセス ,  構造解析