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J-GLOBAL ID:201402241837623153   整理番号:14A0238988

GaN半導体型フォトカソードの量子効率の劣化現象と波長依存性

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巻: 132  号:ページ: 1261-1264  発行年: 2012年08月01日 
JST資料番号: S0810A  ISSN: 0385-4221  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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GaN半導体型フォトカソードの量子効率の時間依存性と波長依存性について測定した。GaN半導体型フォトカソードの量子効率の波長依存性に関する報告はあるが,寿命測定の研究は少ない。負の電子親和力(NEA)を利用している半導体型フォトカソードにおいて,量子効率は,NEA表面の劣化により,真空準位が上昇することで低下する。本研究では,GaN半導体型フォトカソードにCsとO2を吸着させ,He-Cdレーザ(波長325nm)を照射した時の量子効率とその時間依存性を測定した。さらに波長の異なる照射光による量子効率の波長依存性について検討した。一連の検討から得られた様々な知見を提示した。
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分類 (1件):
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光導電素子 
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