抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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GaN半導体型フォトカソードの量子効率の時間依存性と波長依存性について測定した。GaN半導体型フォトカソードの量子効率の波長依存性に関する報告はあるが,寿命測定の研究は少ない。負の電子親和力(NEA)を利用している半導体型フォトカソードにおいて,量子効率は,NEA表面の劣化により,真空準位が上昇することで低下する。本研究では,GaN半導体型フォトカソードにCsとO
2を吸着させ,He-Cdレーザ(波長325nm)を照射した時の量子効率とその時間依存性を測定した。さらに波長の異なる照射光による量子効率の波長依存性について検討した。一連の検討から得られた様々な知見を提示した。