抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
昇温脱離法(TPD)によるジルコニアゲル粉末試料測定におけるSiCの希釈効果を検討した。ジルコニアゲル粉末をSiC GC#1500に添加した。TPD装置での混合試料測定時,分析室圧は添加SiC量によって減少した。試料のTPD曲線のピーク強度および温度は減少しピーク温度もまたSiC含有量に対応して低水準にシフトした。ジルコニア-81wt%SiCの混合粉末試料のTPD曲線はジルコニアゲル膜の曲線と類似していた。この結果から少量の気体が粉末から均一に放出し,圧力の減少およびピーク温度の低水準シフトとなったことが分かった。試料のFE-SEM分析でジルコニアゲル粒子がSiC粒子に付着することが分かった。