特許
J-GLOBAL ID：201403001558762600

光断層撮像装置

発明者：
武藤 健二

武藤 健二 について

, 
吉田 拓史

吉田 拓史 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (2件)： 阿部 琢磨 ,  黒岩 創吾
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-095624
公開番号（公開出願番号）：特開2014-213157
出願日： 2013年04月30日
公開日（公表日）： 2014年11月17日
要約：
【課題】 ダイクロイックミラーにおいて、OCTの光源の波長とSLOの光源の波長との波長分離の精度を向上させること。【解決手段】 観察光路は光路分岐手段の透過光路に配置され、測定光の光路は光路分岐手段の反射光路に配置され、走査手段により走査される測定光が光路分岐手段に入射する角度が略保持されるように、測定光の光路における走査手段と第1のレンズとの間に配置された第2のレンズと走査手段とが配置される。【選択図】 図6
請求項（抜粋）：
第1のレンズを介して測定光が照射された被検査物からの戻り光と該測定光に対応する参照光とを合波した光に基づいて、該被検査物の断層画像を取得する光断層撮像装置であって、 前記測定光の光路に設けられ、前記被検査物に対して前記測定光を走査する走査手段と、 前記測定光の光路における前記走査手段と前記第1のレンズとの間に配置された第2のレンズと、 前記第1のレンズと前記第2のレンズとの間に配置され、前記測定光の光路から前記被検査物を観察する観察光路に分岐する光路分岐手段と、を有し、 前記観察光路は、前記光路分岐手段の透過光路に配置され、 前記測定光の光路は、前記光路分岐手段の反射光路に配置され、 前記走査手段により走査される測定光が前記光路分岐手段に入射する角度が略保持されるように、前記第2のレンズと前記走査手段とが配置されることを特徴とする光断層撮像装置。
IPC (1件)：
A61B 3/10
FI (1件)：
A61B3/10 R
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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