特許
J-GLOBAL ID:201003021483582777
光画像計測装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
加藤 卓
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-041651
公開番号(公開出願番号):特開2010-197180
出願日: 2009年02月25日
公開日(公表日): 2010年09月09日
要約:
【課題】観察対象物体に動きが生じた場合でも精度の高い断層画像情報を検出することができる光画像計測装置を提供する。【解決手段】光源1、2からの低干渉性の光ビームが、ビームスプリッター10により観察対象物体20へ向かう探索光と、所定の参照光路9bへ向かう参照光とに分割される。観察対象物体からの探索光と、参照光との間で合成される干渉光をCCD30で検出して観察対象物体内部の画像情報が取得される。観察対象物体から反射した光源21の光ビームの結像位置がセンサー26により検出され、信号処理手段27により対物レンズと観察対象物体間の距離が計測される。その計測結果に基づいて移動ステージ16の位置が調整され参照光の光路長がリアルタイムに調整される。このような構成では、観察対象物体が、その運動により光軸方向に変動しても、それに応じて参照光の光路長が補正されるので、精度の高い断層画像情報を検出することができる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
光源からの光ビームを走査して観察対象物体の所定部位に照射し、該対象物体からの反射光を光学的な干渉現象を利用して検出処理することにより対象物体の画像情報を取得する光画像計測装置において、
低干渉性の光ビームを発生する光源と、
前記光源からの光ビームを対象物体へ向かう探索光と、所定の参照光路へ向かう参照光とに分割するための光分割部材と、
前記探索光の光ビームを対象物体へと導くための対物レンズ光学系と、
前記参照光の光路長を可変するための光路長調節手段と、
前記観察対象物体から反射され対物レンズ光学系を介して得られる光ビームの結像位置に基づいて前記対物レンズ光学系と観察対象物体との間の距離を計測するための測距手段と、
前記測距手段からの出力情報に基づき前記光路長調節手段を制御するための第1の信号処理手段と、
前記対物レンズ光学系を介した探索光と、前記光路長調節手段を介した参照光との間で合成される干渉光を受光するための検出手段と、
前記検出手段からの出力情報に基づき観察対象物体内部の画像情報を取得するための第2の信号処理手段と、
を備えたことを特徴とする光画像計測装置。
IPC (3件):
G01N 21/17
, A61B 3/12
, A61B 3/10
FI (4件):
G01N21/17 620
, A61B3/12 E
, A61B3/10 R
, A61B3/10 W
Fターム (19件):
2G059AA05
, 2G059AA06
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059EE02
, 2G059EE09
, 2G059FF02
, 2G059GG02
, 2G059HH01
, 2G059HH02
, 2G059JJ07
, 2G059JJ11
, 2G059JJ13
, 2G059JJ15
, 2G059JJ17
, 2G059JJ22
, 2G059KK03
, 2G059KK04
, 2G059MM01
引用特許:
審査官引用 (6件)
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眼底観察装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2006-082124
出願人:株式会社トプコン
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眼科手術装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2005-295395
出願人:カール-ツアイス-スチフツング
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光断層画像化装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-157304
出願人:興和株式会社
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光学位置検出装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-040607
出願人:株式会社リコー
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ディスク試験装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平8-090412
出願人:ソニー・テクトロニクス株式会社
-
光学式変位センサ
公報種別:公開公報
出願番号:特願平7-224832
出願人:株式会社リコー
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引用文献:
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