特許
J-GLOBAL ID：201403003197034445
高炉内装入物のプロフィル測定データの処理方法
発明者：
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出願人/特許権者：
,
代理人 (3件)：
萩原 康司
, 金本 哲男
, 亀谷 美明
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-099206
公開番号（公開出願番号）：特開2014-219299
出願日： 2013年05月09日
公開日（公表日）： 2014年11月20日
要約：
【課題】任意の形状の高炉内装入物のプロフィルを高精度に求める測定データの処理方法を提供する。【解決手段】マイクロ波の送受信により測定対象物までの距離を測定する測定装置A1、A2を、高炉2の炉頂部に、高炉2の中心軸に対して対称位置に2つ設置し、測定装置A1、A2から、マイクロ波放射方向を、高炉内装入物4の表面において高炉2の中心軸を通る直径方向にそれぞれ走査させて装入物4までの距離データを測定し、距離データ測定時のマイクロ波の走査角度データに基づいて距離データを座標変換し、装入物4の表面プロフィルを演算する高炉内装入物のプロフィル測定において、2つの測定装置A1、A2による測定点ごとに、装入物4の表面に対するマイクロ波の入射角度を算出して、入射角度が90°に近い方の測定データを採用し、2つの測定装置A1、A2による測定データを組み合わせて高炉内装入物4のプロフィルを演算する。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
マイクロ波の送受信により測定対象物までの距離を測定する測定装置を、高炉の炉頂部に、前記高炉の中心軸に対して対称位置に2つ設置し、前記測定装置から、マイクロ波放射方向を、高炉内装入物の表面において前記高炉の中心軸を通る直径方向にそれぞれ走査させて前記装入物までの距離データを測定し、前記距離データ測定時のマイクロ波の走査角度データに基づいて前記距離データを座標変換し、前記高炉内装入物の表面プロフィルを演算する高炉内装入物のプロフィル測定において、
前記2つの測定装置による測定点ごとに、前記装入物の表面に対するマイクロ波の入射角度を算出して、前記入射角度が90°に近い方の測定データを採用し、前記2つの測定装置による測定データを組み合わせて前記装入物のプロフィルを演算することを特徴とする、高炉内装入物のプロフィル測定データの処理方法。
IPC (3件)：
G01B 15/04
, C21B 7/24
, C21B 5/00
G01B15/04 C
, C21B7/24 302
, C21B5/00 312
2F067AA06
, 2F067AA53
, 2F067CC07
, 2F067DD02
, 2F067DD07
, 2F067DD08
, 2F067HH02
, 2F067JJ02
, 2F067KK08
, 2F067NN05
, 2F067RR00
, 2F067RR28
, 2F067RR31
, 2F067RR40
, 2F067UU03
, 2F067UU11
, 2F067UU12
, 2F067UU36
, 4K012BC10
, 4K015KA04
