特許

J-GLOBAL ID：201403007353070371

TAPコントローラの動的に自己再構成可能なデイジーチェーン

発明者： チャン・ヨン・ヤン ,  クリント・ダブリュー・マムフォード ,  ユコン・タオ ,  クレイグ・イー・ボーデン
出願人/特許権者： クアルコム,インコーポレイテッド
代理人 (2件)： 村山 靖彦 ,  黒田 晋平
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-531791
公開番号（公開出願番号）：特表2014-528078
出願日： 2012年05月09日
公開日（公表日）： 2014年10月23日
要約：

TAPコントローラの自己再構成可能なデイジーチェーンは、主TAPコントローラおよび1つまたは複数の補助TAPコントローラを含む。デイジーチェーンは、主TAPコントローラが回路のテスト中に複数回デイジーチェーンを構成および再構成することができるという点で動的に自己再構成可能である。主TAPコントローラ内のデータレジスタは、特殊なJTAG命令に関連付けられる。この命令は、補助TAPコントローラのうちの選択された個々の補助TAPコントローラをイネーブルおよびディセーブルにするのに使用可能である。補助コントローラがイネーブルにされた場合、補助コントローラはTDIからTDOへのデイジーチェーンスキャン経路の一部にされる。補助コントローラがディセーブルにされた場合、補助コントローラはデイジーチェーンスキャン経路の一部にならない。ただし、ディセーブルにされたコントローラおよびそのレジスタはリセットされない。

請求項（抜粋）：

TDI(Test Data In)導体と、 TDO(Test Data Out)導体と、 TAP(Test Access Port)コントローラの自己再構成可能なデイジーチェーンとを備え、TAPコントローラの前記自己再構成可能なデイジーチェーンが、 第1のTAPコントローラと、 第2のTAPコントローラとを備え、第1のスキャン経路が、前記TDI導体から、前記第1のTAPコントローラから前記第1のTAPコントローラのTDOポートを介して、前記第2のTAPコントローラのTDIポートに延在し、前記第2のTAPコントローラから前記第2のTAPコントローラのTDOポートを介して、前記TDO導体に延在するように、前記第1のTAPコントローラが前記デイジーチェーンを第1の構成で構成することができ、第2のスキャン経路が、前記TDI導体から、前記第1のTAPコントローラを介するが、前記第2のTAPコントローラを介さずに、前記第1のTAPコントローラの前記TDOポートから前記TDO導体に延在するように、前記第1のTAPコントローラが前記デイジーチェーンを第2の構成で構成することができる、装置。

IPC (1件)：

G01R 31/28

FI (2件)：

G01R31/28 G ,  G01R31/28 V

Fターム (10件)：

2G132AA01 ,  2G132AA15 ,  2G132AB01 ,  2G132AC15 ,  2G132AG08 ,  2G132AK07 ,  2G132AK11 ,  2G132AK13 ,  2G132AK23 ,  2G132AL09

引用特許：

審査官引用 (3件)

• テスト回路
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-280745   出願人：NECエレクトロニクス株式会社
• 電子デバイス
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2003-529172   出願人：コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ
• テストインタフェースを含む集積回路及びテストインタフェースを使用する方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-234942   出願人：テキサスインスツルメンツインコーポレイテツド