特許
J-GLOBAL ID：200903007411076318
テスト回路
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
家入 健
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-280745
公開番号（公開出願番号）：特開2008-310792
出願日： 2007年10月29日
公開日（公表日）： 2008年12月25日
要約：
【課題】従来では、複数のTAPコントローラを制御する場合、IEEE1149に違反した制御を行なわなければならない問題があった。【解決手段】本発明にかかるテスト回路は、IEEE1149にて規定されるTAPコントローラとテストアクセスポートとを有するテスト回路であって、TMS信号に応じて第1の内部TMS信号TMS_1〜TMS_3を生成するとともに第1の選択信号EN2、EN3に応じて第1の内部TMS信号TMS_1〜TMS_3の出力を制御する選択回路410と、第1の内部TMS信号TMS_1に基づいて内部状態を遷移させるとともに選択用命令コードに基づき第1の選択信号EN2、EN3を生成するTAPコントローラ400と、を有する第1のコントローラ40と、第1の内部TMS信号TMS_2、TMS_3信号に基づき内部状態を遷移させるTAPコントローラ500、600を有する第2のコントローラとを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
IEEE(Institute of Electrical and Electronics Engineers)1149にて規定されるTAPコントローラと、テストアクセスポートと、を有するテスト回路であって、
TMS信号に応じて第1の内部TMS信号を生成するとともに第1の選択信号に応じて前記第1の内部TMS信号の出力先を選択する選択回路と、前記第1の内部TMS信号に基づいて内部状態を遷移させるとともに選択用命令コードに基づき前記第1の選択信号を生成する第1のTAPコントローラと、を有する第1のコントローラと、
前記第1の内部TMS信号に基づき内部状態を遷移させる第2のTAPコントローラを有する第2のコントローラと、
を備えるテスト回路。
IPC (2件)：
FI (3件)：
G06F11/22 310R
, G06F11/22 360P
, G01R31/28 G
2G132AA01
, 2G132AA20
, 2G132AB01
, 2G132AC15
, 2G132AK13
, 2G132AL03
, 2G132AL25
, 5B048AA20
, 5B048CC05
, 5B048CC18
, 5B048DD08
, 5B048FF01
, 5B048FF03
, 5B048FF04
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (8件)
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