特許
J-GLOBAL ID：201403008440543010

測定対象表面上における3D座標を求めるための光学的測定方法および光学的測定システム

発明者：
クヌート ズィアクス

クヌート ズィアクス について


出願人/特許権者：
ヘキサゴン テクノロジー センター ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング

ヘキサゴン テクノロジー センター ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング について


代理人 (2件)： アインゼル・フェリックス=ラインハルト ,  久野 琢也
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-510795
公開番号（公開出願番号）：特表2014-517285
出願日： 2012年05月16日
公開日（公表日）： 2014年07月17日
要約：
本発明は、1つの測定対象表面(1s)の複数の測定点の3D座標を求めるための光学的測定方法を対象とする。こうするためには、複数の異なるパターン(2a)から成るパターン列をプロジェクタ(3)によって測定対象表面(1s)に照射し、当該パターン列が照射された前記測定対象表面(1s)の画像列をカメラシステムにより撮像し、前記画像列を評価することにより、前記測定点の3D座標を求め、その際にはとりわけ、撮像された前記画像列の各画像における、前記測定対象表面(1s)の同一の測定点の明度値のシーケンスを求める。本発明ではその際に、プロジェクタ(3)および/またはカメラシステムおよび/または測定対象(1)の並進加速度および/または回転加速度を測定し、測定したこの加速度に依存して、測定対象表面(1s)への照射および/または画像列の撮像を、とりわけ、時間的に実質的に間を置かずに測定プロセス中にリアルタイムで応答して適合する。
請求項（抜粋）：
1つの測定対象表面(1s)の複数の測定点の3D座標を求める光学的測定方法であって、 ・複数の異なるパターン(2a,2b)から成るパターン列をプロジェクタ(3)によって前記測定対象表面(1s)に照射するステップと、 ・前記パターン列が照射された前記測定対象表面(1s)の画像列をカメラシステム(4)により撮像するステップと、 ・前記画像列を評価することにより、とりわけ、撮像した前記画像列の各画像中の前記測定対象表面(1s)の同一の測定点の明度値のシーケンスを求めて、前記測定点の3D座標を求めるステップと を有する光学的測定方法において、 ・前記プロジェクタ(3)および/または ・前記カメラシステム(4)および/または ・前記測定対象(1) の並進加速度および/または回転加速度を測定し、 測定した前記加速度に依存して、とりわけ時間的に間を置かずに測定プロセス中にリアルタイムで応答して、前記測定対象表面(1s)への照射および/または前記画像列の撮像を適合する ことを特徴とする光学的測定方法。
IPC (3件)：
G01B 11/00 ,  G01B 21/00 ,  G01B 21/22
FI (3件)：
G01B11/00 H ,  G01B21/00 E ,  G01B21/22
Fターム (21件)：
2F065AA04 ,  2F065CC11 ,  2F065CC16 ,  2F065FF04 ,  2F065FF44 ,  2F065FF64 ,  2F065GG21 ,  2F065HH06 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ31 ,  2F069AA04 ,  2F069AA71 ,  2F069BB21 ,  2F069GG07 ,  2F069GG41 ,  2F069GG61 ,  2F069NN05
引用特許：
審査官引用 (4件)
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