特許
J-GLOBAL ID:201403009759081903

PZT膜の製造方法及び成膜装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 栗原 浩之 ,  村中 克年
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-018820
公開番号(公開出願番号):特開2014-150191
出願日: 2013年02月01日
公開日(公表日): 2014年08月21日
要約:
【課題】基板面内での膜厚・組成の均一性、及び再現性が向上した良好な電気特性を有するPb組成のPZT膜の製造方法及びこのPZT膜のような強誘電体膜を製造するための成膜装置を提供すること。【解決手段】Pb(thd)2、Pb(dmhd)2、又はそれらを原料の一部に含んだ状態のPb原料から得られたガスと、Zr(dmhd)4又はZr(iPrO)2(thd)2から得られたガスと、Ti(OiPr)2(thd)2から得られたガスとを、所定の温度に設定したシャワーノズルから基板上に供給し、その際、供給ガス中のPb/(Zr+Ti)比が0.9〜1.55となるように原料ガスの流量を設定して成膜する。【選択図】図4
請求項(抜粋):
基板上に、MOCVD法によりPZT膜を製造する方法において、Pb原料、Zr原料及びTi原料として、Pb(thd)2、Pb(dmhd)2、又はそれらを原料の一部に含んだ状態のPb原料から得られたガスと、Zr(dmhd)4又はZr(iPrO)2(thd)2から得られたガスと、Ti(OiPr)2(thd)2から得られたガスとを、所定の温度に設定したシャワーノズルから該基板上に供給し、その際、供給ガス中のPb/(Zr+Ti)比が0.9〜1.55となるように3種の原料ガスの流量を設定して成膜することを特徴とするPZT膜の製造方法。
IPC (3件):
H01L 21/316 ,  H01L 21/31 ,  C23C 16/40
FI (3件):
H01L21/316 X ,  H01L21/31 B ,  C23C16/40
Fターム (31件):
4K030AA11 ,  4K030AA14 ,  4K030BA18 ,  4K030BA22 ,  4K030BA42 ,  4K030CA04 ,  4K030CA12 ,  4K030EA03 ,  4K030FA10 ,  4K030JA06 ,  4K030JA10 ,  4K030KA22 ,  4K030KA26 ,  4K030KA39 ,  5F045AA04 ,  5F045AB31 ,  5F045AC07 ,  5F045AC15 ,  5F045AC16 ,  5F045AD10 ,  5F045BB02 ,  5F045DP03 ,  5F045EC09 ,  5F045EE02 ,  5F045EE03 ,  5F045EE12 ,  5F045EF05 ,  5F058BC03 ,  5F058BF06 ,  5F058BF27 ,  5F058BF37
引用特許:
審査官引用 (3件)

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