特許
J-GLOBAL ID:201403011866428090
化学・物理現象検出方法及びその装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (3件):
小西 富雅
, 中村 知公
, 木村 誠司
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-112444
公開番号(公開出願番号):特開2014-232032
出願日: 2013年05月29日
公開日(公表日): 2014年12月11日
要約:
【課題】CCDタイプやISFETタイプのセンサに好適な検出方法を提供する。【解決手段】検出対象をセンシング部に接触若しくは近接させて、センシング部の電位変化を測定する化学・物理現象検出方法であって、検出対象が捕捉された微小粒体をセンシング部に固定した状態で、センシング部の電位変化を測定する。検出対象を捕捉させた微小粒体をセンシング部に固定しても、微小粒体をセンシング部へ固定した後に検出対象を微小粒体へ捕捉させてもよい。【選択図】図4
請求項(抜粋):
検出対象をセンシング部に接触若しくは近接させて、前記センシング部の電位変化を測定する化学・物理現象検出方法であって、
前記検出対象が捕捉された微小粒体を前記センシング部に固定した状態で、前記センシング部の電位変化を測定する化学・物理現象検出方法。
IPC (2件):
G01N 27/414
, G01N 27/416
FI (3件):
G01N27/30 301Y
, G01N27/46 386G
, G01N27/30 301V
引用特許:
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