特許
J-GLOBAL ID：201403012138392310
穴中心座標の検出方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
上島 淳一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-015744
公開番号（公開出願番号）：特開2014-145732
出願日： 2013年01月30日
公開日（公表日）： 2014年08月14日
要約：
【課題】穴の中心座標を精度良く検出することが可能な穴中心座標の検出方法を提供する。【解決手段】制御手段による数値制御により所定のデータに基づいてワークを3次元で加工する加工装置において、部材の位置決めを行う際に、基準となる穴の中心座標を検出する穴中心座標の検出方法であって、主軸に取り付けられたセンシングピン42を基準穴に挿入し、センシングピン42をX軸方向で移動して基準穴の中心座標の仮のX座標値を取得して、センシングピン42を仮のX座標値に移動し、次に、センシングピン42をY軸方向で移動して基準穴の中心座標のY座標値を取得して、センシングピン42をY座標値に移動し、その後、センシングピン42をX軸方向で移動して基準穴の中心座標のX座標値を取得する。【選択図】図7
請求項（抜粋）：
制御手段による数値制御により所定のデータに基づいてワークを3次元で加工する加工装置において、部材の位置決めを行う際に、基準となる穴の中心座標を検出する穴中心座標の検出方法であって、
主軸に取り付けられたセンシングピンを所定の部材に設けられた前記穴に挿入する第1のステップと、
前記センシングピンをXYZ直交座標系におけるX軸方向の第1の方向に移動し、前記センシングピンが前記穴の内面に接触したときの第1のX座標値を取得する第2のステップと、
前記センシングピンをX軸方向における第2の方向に移動し、前記センシングピンが前記穴の内面に接触したときの第2のX座標値を取得する第3のステップと、
前記第1のX座標値と前記第2のX座標値との中点の座標値を前記穴の中心座標の仮のX座標値として記憶し、記憶した前記穴の中心座標の仮のX座標値に前記センシングピンを移動する第4のステップと、
前記センシングピンをY軸方向における第1の方向に移動し、前記センシングピンが前記穴の内面に接触したときの第1のY座標値を取得する第5のステップと、
前記センシングピンをY軸方向における第2の方向に移動し、前記センシングピンが前記穴の内面に接触したときの第2のY座標値を取得する第6のステップと、
前記第1のY座標値と前記第2のY座標値との中点の座標値を前記穴の中心座標のY座標値として記憶し、記憶した前記穴の中心座標のY座標値に前記センシングピンを移動する第7のステップと、
前記センシングピンをX軸方向における第1の方向に移動し、前記センシングピンが前記穴の内面に接触したときの第3のX座標値を取得する第8のステップと、
前記センシングピンをX軸方向における第2の方向に移動し、前記センシングピンが前記穴の内面に接触したときの第4のX座標値を取得する第9のステップと、
前記第3のX座標値と前記第4のX座標値との中点の座標値を前記穴の中心座標のX座標値として記憶する第10のステップと
を前記制御手段が実行する
ことを特徴とする穴中心座標の検出方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (19件)：
2F062AA01
, 2F062AA02
, 2F062AA03
, 2F062AA04
, 2F062AA10
, 2F062BB20
, 2F062DD32
, 2F062EE01
, 2F062EE62
, 2F062FF02
, 2F062FF03
, 2F062FF04
, 2F062FF07
, 2F062HH01
, 2F062HH02
, 2F062HH21
, 2F062JJ04
, 3C029AA01
, 3C029AA06
出願人引用 (7件)
全件表示
審査官引用 (7件)
全件表示
前のページに戻る
