特許
J-GLOBAL ID：200903087004709105
三次元座標測定システム及びそれに用いるパートプログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
伊丹 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-298978
公開番号（公開出願番号）：特開2006-112861
出願日： 2004年10月13日
公開日（公表日）： 2006年04月27日
要約：
【課題】 安価な構成で且つ直前の測定方向に左右されず、ヒステリシスの影響を一定にして高精度な測定を可能にする。【解決手段】 被測定物にプローブが接触したときのプローブの三次元位置の情報から測定要素のパラメータを算出する三次元測定システムにおいて、プローブを被測定物の測定点に同じ方向から2回連続して接触させ、このうちプローブが後で接触したときの三次元位置の情報のみを取り込んで測定要素のパラメータを算出する。【選択図】 図5
請求項（抜粋）：
被測定物にプローブが接触したときの前記プローブの三次元座標位置の情報を出力する三次元座標測定機と、
パートプログラムに基づいて前記プローブを相対駆動制御すると共に前記出力されたプローブの三次元座標位置の情報から測定要素のパラメータを算出する制御手段と
を有する三次元座標測定システムにおいて、
前記制御手段は、前記プローブを前記被測定物の測定目標位置に同じ方向から複数回連続して接触させ、このうち前記プローブが2回目以降に接触したときの三次元座標位置の情報を取り込んで前記測定要素のパラメータを算出するものである
ことを特徴とする三次元座標測定システム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (18件)：
2F069AA04
, 2F069AA51
, 2F069EE00
, 2F069EE23
, 2F069GG01
, 2F069GG11
, 2F069GG52
, 2F069GG62
, 2F069HH02
, 2F069HH11
, 2F069JJ14
, 2F069LL02
, 2F069MM01
, 2F069MM09
, 2F069MM24
, 2F069MM33
, 2F069MM34
, 2F069NN00
出願人引用 (3件)
審査官引用 (8件)
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