特許
J-GLOBAL ID：201403016763635219
バンド検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
川口 光男
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-002712
公開番号（公開出願番号）：特開2013-141990
特許番号：特許第5526160号
出願日： 2012年01月11日
公開日（公表日）： 2013年07月22日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 複数のPTPシートを積層した集積体の周囲に巻付けシールしたバンドフィルムのシール状態を検査するバンド検査装置であって、
前記バンドフィルムに対する摩擦係数が少なくとも当該バンドフィルム自身及び前記PTPシートの裏面よりも大きい所定の当接部材を、前記PTPシートの裏面により構成される前記集積体の一側面上の前記バンドフィルムの露出面に対し押し付けた状態で、バンドフィルムの巻付け方向とは逆方向へ引っ張った際の抗力を基に、前記バンドフィルムのシール状態の良否を判定することを特徴とするバンド検査装置。
IPC (4件)：
B65B 13/18 ( 200 6.01)
, B65B 13/14 ( 200 6.01)
, B65B 13/32 ( 200 6.01)
, B65B 57/02 ( 200 6.01)
B65B 13/18 G
, B65B 13/14
, B65B 13/32
, B65B 57/02 B
