特許
J-GLOBAL ID：201403019691582076

電位差測定のための電位差計および電位差測定方法

発明者：
栃谷 元

栃谷 元 について

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日高 邦彦

日高 邦彦 について

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熊田 亜紀子

熊田 亜紀子 について


出願人/特許権者：
大崎電気工業株式会社

大崎電気工業株式会社 について

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国立大学法人 東京大学

国立大学法人 東京大学 について


代理人 (6件)： 小野 新次郎 ,  小林 泰 ,  富田 博行 ,  星野 修 ,  大塚 住江 ,  末松 亮太
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-260490
公開番号（公開出願番号）：特開2014-106169
出願日： 2012年11月29日
公開日（公表日）： 2014年06月09日
要約：
【課題】高電圧の計測に用いられてきた電気光学効果(ポッケルス効果)を利用した電位差測定において、高電圧のみならず、商用電源から発生されるような低強度電界の低電圧の測定にも適応可能な電位差計を提供する。【解決手段】電気光学効果を利用した電位差測定のための電位差計は、対向する第1および第2の表面を有する光学結晶10’、この光学結晶表面上に密着被覆され計測光が入射および出射される第1および第2の透明電極11a、11b、ならびに光学結晶の第1および第2の表面のうち第1および第2の透明電極以外の表面上に密着被覆される反射ミラーとして機能する第1および第2の金属電極15a、15bであり、電位差を計測すべき一対の被測定端子に接続され、第2透明電極から出射される計測光の強度に基づいて、一対の被測定端子の間の電位差を算出可能とする。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
電気光学効果を利用した電位差測定のための電位差計であって、 対向する第1および第2の表面を有する光学結晶であって、該第1および第2の表面が光学研磨された光学結晶と、 前記光学結晶の第1または第2の表面の端部の近傍に配置される、該表面上に密着被覆される第1および第2の透明電極であって、計測光が入射および出射される第1および第2の透明電極と、 光学結晶の第1および第2の表面のうち前記第1および第2の透明電極以外の表面上に密着被覆される、反射ミラーとして機能する第1および第2の金属電極であって、電位差を計測すべき一対の被測定端子に接続される第1および第2の金属電極と、を備えており、 前記第2透明電極から出射される計測光の強度に基づいて、前記一対の被測定端子の間の電位差を算出可能とすることを特徴とする、電位差計。
IPC (3件)：
G01R 19/00 ,  G01R 15/24 ,  G01R 29/12
FI (3件)：
G01R19/00 V ,  G01R15/07 C ,  G01R29/12 F
Fターム (10件)：
2G025AB11 ,  2G025AC01 ,  2G035AA17 ,  2G035AB08 ,  2G035AC01 ,  2G035AD20 ,  2G035AD36 ,  2G035AD37 ,  2G035AD38 ,  2G035AD43
引用特許：
出願人引用 (12件)
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審査官引用 (11件)
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