特許
J-GLOBAL ID:201403029035917571

軸受部品の検査方法および軸受部品の検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人深見特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-150642
公開番号(公開出願番号):特開2014-013188
出願日: 2012年07月04日
公開日(公表日): 2014年01月23日
要約:
【課題】転がり軸受の使用条件を高精度に推定することが可能な軸受部品の検査方法、および検査装置を提供する。【解決手段】軸受部品の検査方法は、被検査軸受部品の疲労部にX線を照射するステップ(S10)と、疲労部にて回折した環状の回折X線(X線回折環)を検出するステップ(S20)と、検出されれた環状の回折X線(X線回折環)に基づいて被検査軸受部品の使用条件を推定するステップ(S30,S40)とを備えている。【選択図】図3
請求項(抜粋):
被検査軸受部品の疲労部にX線を照射するステップと、 前記疲労部にて回折した環状の回折X線を検出するステップと、 検出された前記環状の回折X線に基づいて前記被検査軸受部品の使用条件を推定するステップとを備えた、軸受部品の検査方法。
IPC (1件):
G01N 23/20
FI (1件):
G01N23/20
Fターム (10件):
2G001AA01 ,  2G001BA18 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA09 ,  2G001GA13 ,  2G001HA13 ,  2G001KA03 ,  2G001LA02
引用特許:
審査官引用 (3件)
引用文献:
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