特許
J-GLOBAL ID：201403032074871059
化学状態測定方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人 安富国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-119929
公開番号（公開出願番号）：特開2014-238287
出願日： 2013年06月06日
公開日（公表日）： 2014年12月18日
要約：
【課題】ゴム材料の化学状態、特に劣化などの表面から生じる化学状態の変化(ゴム材料の劣化状態)を正確に測定できる化学状態測定方法を提供する。【解決手段】新品及び劣化後のゴム材料にフリーサルファー除去処理を施して作成された試料に対してそれぞれX線をエネルギーを変えながら照射し、X線吸収量を測定して得られた各スペクトルを比較することで、劣化後の試料の劣化状態を解析し、ポリマー劣化度とイオウ劣化度の劣化割合を判定する。X線を用いた表面分析法を適用することにより、ゴム材料の化学状態を測定する化学状態測定方法に関する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
ゴム材料にフリーサルファー除去処理を施した後、X線を用いた表面分析法を適用することにより、ゴム材料の化学状態を測定する化学状態測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (9件)：
2G001AA01
, 2G001BA04
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001GA11
, 2G001KA12
, 2G001KA20
, 2G001LA05
, 2G001RA02
