特許

J-GLOBAL ID：201403033636247082

情報処理装置及び情報処理方法

発明者： 中里 祐介
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (6件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-076449
公開番号（公開出願番号）：特開2014-202502
出願日： 2013年04月01日
公開日（公表日）： 2014年10月27日
要約：

【課題】投影された構造化光の反射光に基づく三角測量法で取得された奥行き情報を、効率良く保持する。【解決手段】物体に対して投影装置10から投影された構造化光の反射光を撮像装置20で受光して得られる2次元画像を取得し、該2次元画像から、三角測量法により3次元空間における奥行き情報を取得する。なお、投影される構造化光としては、投影装置10と撮像装置20とを結ぶ直線に対して略直交する複数の離散的な計測線を構成する光である。奥行き情報は、従来であれば距離画像50のように得られていたが、本発明では、計測線の本数に応じた軸90と、撮影画像の幅に応じた軸70からなる2次元配列である計測線マップ60の各要素に格納する。これにより、奥行き情報の保持容量が削減される。また、計測線マップによる特徴点の対応付けを行うことで、対象物体の照合処理が高速化される。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

投影装置から投影された構造化光が物体で反射された反射光を撮像装置で受光して得られた2次元画像を取得する画像取得手段と、 前記2次元画像から前記物体の奥行き情報を取得する奥行き情報取得手段と、 前記奥行き情報を計測線マップの各要素に格納する格納手段と、を有し、 前記構造化光は、前記投影装置と前記撮像装置とを結ぶ直線に対して略直交する複数の離散的な計測線を構成する光であり、 前記計測線マップは、前記計測線の本数に応じた次元と、前記2次元画像における前記計測線の長さ方向の画素数に応じた次元からなる配列として構成される ことを特徴とする情報処理装置。

IPC (2件)：

G01B 11/25 ,  G06T 1/00

FI (2件)：

G01B11/25 H ,  G06T1/00 300

Fターム (39件)：

2F065AA04 ,  2F065AA37 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065DD06 ,  2F065EE08 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065GG04 ,  2F065GG07 ,  2F065HH06 ,  2F065HH07 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ16 ,  2F065JJ18 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065LL12 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ18 ,  2F065QQ21 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ38 ,  2F065RR06 ,  5B057AA05 ,  5B057BA15 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057DB03 ,  5B057DC03 ,  5B057DC09 ,  5B057DC33