特許
J-GLOBAL ID：201403035598211454

射出成型機

発明者：
森田 洋

森田 洋 について

, 
加藤 敦

加藤 敦 について


出願人/特許権者：
住友重機械工業株式会社

住友重機械工業株式会社 について


代理人 (1件)： 小島 誠
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-218844
公開番号（公開出願番号）：特開2014-041145
出願日： 2013年10月22日
公開日（公表日）： 2014年03月06日
要約：
【課題】測定対象マークの位置の変位の時刻暦をカメラで測定している期間中に、カメラ自体の変位及び姿勢変化による誤差の影響を受けない変位測定装置を提供する。【解決手段】観測装置20、30が、測定対象マークA及び基準マークE1〜E3、F1〜F3を撮像し、画像データが処理装置40に入力される。処理装置40は、画像データから測定対象マークA及び基準マークE1〜E3、F1〜F3の位置情報を算出する。さらに、測定対象マークAの異なる時刻における位置情報から、測定対象マークAの変位量を算出し、基準マークE1〜E3、F1〜F3の異なる時刻における位置情報から、観測装置20、30の変位量を算出し、観測装置20、30の変位量に基づいて、測定対象マークAの変位量を補正する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定対象マーク及び基準マークを撮像し、画像データを取得する観測装置と、 前記観測装置で取得された画像データが入力され、画像解析を行う制御装置と、 を有し、 前記制御装置は、 画像解析を行うことにより、前記測定対象マークの異なる時刻における位置情報から、 該測定対象マークの変位量を算出し、 前記基準マークの像の前記異なる時刻の間の変位に基づいて、前記観測装置の変位量を算出し、 前記観測装置の変位量に基づいて、前記測定対象マークの変位量を補正する変位測定装置。
IPC (1件)：
G01B 11/00
FI (1件)：
G01B11/00 H
Fターム (43件)：
2F065AA04 ,  2F065AA09 ,  2F065AA31 ,  2F065BB05 ,  2F065BB27 ,  2F065DD04 ,  2F065FF01 ,  2F065FF05 ,  2F065FF61 ,  2F065FF63 ,  2F065FF64 ,  2F065FF66 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL04 ,  2F065QQ05 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ42 ,  2F065SS02 ,  2F065SS03 ,  2F065SS13 ,  4F206AM23 ,  4F206AP022 ,  4F206AP027 ,  4F206AP082 ,  4F206AP087 ,  4F206AQ01 ,  4F206AR074 ,  4F206JA07 ,  4F206JD03 ,  4F206JL09 ,  4F206JM02 ,  4F206JM04 ,  4F206JP13 ,  4F206JP14 ,  4F206JP15 ,  4F206JT02 ,  4F206JT05 ,  4F206JT33 ,  4F206JT38
引用特許：
出願人引用 (8件)
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審査官引用 (7件)
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