特許
J-GLOBAL ID:201403042959083339

粒子線照射システム及び運転制御パターンデータの生成方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 春日 讓 ,  猪野木 雄一
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-264317
公開番号(公開出願番号):特開2014-110168
出願日: 2012年12月03日
公開日(公表日): 2014年06月12日
要約:
【課題】シンクロトロンのビーム出射において、所望のエネルギーのビーム照射を実現するために必要となる運転制御パターンデータの生成工程を短縮する。【解決手段】データ生成装置41は、調整済みの運転制御パターンデータを分割し、分割した区間をデータモジュールとし、これらのデータモジュールを流用して新たな運転制御パターンデータを作成する。多段出射運転制御特有の出射エネルギー変更に関しては、補間関数を用いて、前出射エネルギー値と目標出射エネルギー値を基にエネルギー変更パターンデータを作成し、運転制御パターンデータを自動生成する。多段出射は前出射の残留磁場が影響するため、残留磁場の影響を計算し、残留磁場の影響を考慮した補正値を運転制御パターンデータに反映し、運転制御を行う。残留磁場の影響を考慮した補正値の作成は、一部を残留磁場の計測に基づき、残りを補間により行う。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
イオンビームを加速して出射するシンクロトロンと、 前記シンクロトロンを構成する機器を制御する制御装置と、 前記制御装置が前記シンクロトロンを構成する機器を制御するのに用いる調整済の運転制御パターンデータを分割して、加速制御パターンデータ、出射制御パターンデータ、減速制御パターンデータを含む複数のデータモジュールを生成し、前記複数の調整済のデータモジュールを組み合わせて、前記制御装置が用いる新たな運転制御パターンデータを生成するデータ生成装置とを備えることを特徴とする粒子線照射システム。
IPC (2件):
H05H 13/04 ,  G21K 5/04
FI (2件):
H05H13/04 N ,  G21K5/04 A
Fターム (11件):
2G085AA13 ,  2G085CA05 ,  2G085CA06 ,  2G085EA07 ,  4C082AC04 ,  4C082AC05 ,  4C082AE01 ,  4C082AG02 ,  4C082AG43 ,  4C082AG44 ,  4C082AT03
引用特許:
審査官引用 (6件)
全件表示

前のページに戻る