特許
J-GLOBAL ID：201403048226965490

重質試料用の試料粘度/流量制御およびそのX線分析応用

発明者：
ジョージ アレン

ジョージ アレン について

, 
スチュアート シャクショーバー

スチュアート シャクショーバー について

, 
ソニー チェリアン

ソニー チェリアン について


出願人/特許権者：
エックス-レイ オプティカル システムズ インコーポレーテッド

エックス-レイ オプティカル システムズ インコーポレーテッド について


代理人 (1件)： 特許業務法人 谷・阿部特許事務所
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-526124
公開番号（公開出願番号）：特表2014-527635
出願日： 2012年08月14日
公開日（公表日）： 2014年10月16日
要約：
X線分析焦点領域の方向に送られるX線励起ビームを生成するためのX線源を有するX線エンジンと、X線分析焦点領域に試料流を提供するための試料チャンバであって、分析焦点領域がこのチャンバ内に画定される試料分析領域内に配置される、試料チャンバと、二次X線を収集し、このX線を検出器の方向に送るための、X線検出経路と、X線が通過する、チャンバの壁部上のX線透過性バリアと、試料分析領域を部分的に阻止することにより、試料分析領域内においておよびバリア上において試料流の乱流を発生させる、阻止構造体とを有する、X線分析システム。阻止構造体は、X線分析焦点領域および/または試料分析領域の中心軸を中心として非対称的に配置されてもよく、丸形ピンであってもよい。加熱素子が、試料流を加熱して流れを向上させるために使用されてもよい。
請求項（抜粋）：
内部で試料流がX線エンジンのX線分析焦点領域の周辺を流れる、試料分析領域を画定する試料チャンバと、 X線が前記試料分析領域へ/から進むのを可能にするための、前記チャンバの壁部中のX線透過性バリアと、 前記試料分析領域においておよび前記バリアの上において試料流の乱流を発生させるための、前記試料分析領域を部分的に阻止する阻止構造体と を備えることを特徴とするX線分析試料処理装置。
IPC (1件)：
G01N 23/223
FI (1件)：
G01N23/223
Fターム (12件)：
2G001AA01 ,  2G001BA04 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001HA03 ,  2G001JA10 ,  2G001KA01 ,  2G001LA04 ,  2G001MA02 ,  2G001MA03 ,  2G001NA08 ,  2G001PA18
引用特許：
出願人引用 (6件)
全件表示
審査官引用 (6件)
全件表示

前のページに戻る

TOP

BOTTOM