特許
J-GLOBAL ID:201403070405870901

自動分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 井上 学 ,  戸田 裕二 ,  岩崎 重美
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-211655
公開番号(公開出願番号):特開2014-066592
出願日: 2012年09月26日
公開日(公表日): 2014年04月17日
要約:
【課題】 複数の反応セルの高さばらつきを測定し、その数値を元に、反応セルと光度計光軸の位置関係を補正することで、微少な反応液量においても正確な光学的測定が可能な自動分析装置を提供する。【解決手段】 検体と試薬を混合する反応セルに光を照射する光源と、反応セルからの光を検出する検出器と、複数の前記反応セルを載置する反応ディスクと、反応ディスクを回転駆動させる制御部と、を備え、複数の反応セルの個々の反応セルの底の高さ情報に応じて、記憶部は、該光の光軸を鉛直方向に駆動する。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
検体と試薬を混合する反応セルに光を照射する光源と、前記反応セルからの光を検出する検出器と、 複数の前記反応セルを載置する反応ディスクと、 前記反応ディスクを回転駆動させる制御部と、を備え、 前記複数の反応セルの個々の反応セルの底の高さ情報に応じて、前記制御部は、該光の光軸を鉛直方向に駆動することを特徴とする自動分析装置。
IPC (2件):
G01N 35/02 ,  G01N 35/04
FI (2件):
G01N35/02 G ,  G01N35/04 A
Fターム (3件):
2G058CD04 ,  2G058GA03 ,  2G058GB10
引用特許:
審査官引用 (12件)
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