特許
J-GLOBAL ID:201403070405870901
自動分析装置
発明者:
,
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
井上 学
, 戸田 裕二
, 岩崎 重美
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-211655
公開番号(公開出願番号):特開2014-066592
出願日: 2012年09月26日
公開日(公表日): 2014年04月17日
要約:
【課題】 複数の反応セルの高さばらつきを測定し、その数値を元に、反応セルと光度計光軸の位置関係を補正することで、微少な反応液量においても正確な光学的測定が可能な自動分析装置を提供する。【解決手段】 検体と試薬を混合する反応セルに光を照射する光源と、反応セルからの光を検出する検出器と、複数の前記反応セルを載置する反応ディスクと、反応ディスクを回転駆動させる制御部と、を備え、複数の反応セルの個々の反応セルの底の高さ情報に応じて、記憶部は、該光の光軸を鉛直方向に駆動する。【選択図】 図3
請求項(抜粋):
検体と試薬を混合する反応セルに光を照射する光源と、前記反応セルからの光を検出する検出器と、
複数の前記反応セルを載置する反応ディスクと、
前記反応ディスクを回転駆動させる制御部と、を備え、
前記複数の反応セルの個々の反応セルの底の高さ情報に応じて、前記制御部は、該光の光軸を鉛直方向に駆動することを特徴とする自動分析装置。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N35/02 G
, G01N35/04 A
Fターム (3件):
2G058CD04
, 2G058GA03
, 2G058GB10
引用特許:
審査官引用 (12件)
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自動分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2001-298977
出願人:株式会社日立製作所, 株式会社日立サイエンスシステムズ
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分析装置における容器支持用ディスクの歪補正装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-230569
出願人:日本電子株式会社
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分析装置と分析装置の測光方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2006-023820
出願人:オリンパス株式会社
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自動分析装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-013232
出願人:株式会社日立ハイテクノロジーズ
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自動分析装置、測光装置および測光方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-010812
出願人:ベックマン・コールター・インコーポレーテッド
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自動分析装置及び反応容器
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-017186
出願人:株式会社日立ハイテクノロジーズ
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特開昭64-088135
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特開昭52-119376
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光路長測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-176576
出願人:株式会社島津製作所
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自動分析装置及び自動分析方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2009-003836
出願人:株式会社東芝, 東芝メディカルシステムズ株式会社
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微量液体試料の分光特性測定装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-170160
出願人:株式会社島津製作所
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化学分析方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平4-116583
出願人:日本電気株式会社
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