特許
J-GLOBAL ID：201403072863426339

クラスタ分析方法、クラスタ分析装置及びコンピュータプログラム

発明者：
田中 嘉宏

田中 嘉宏 について


出願人/特許権者：
東洋ゴム工業株式会社

東洋ゴム工業株式会社 について


代理人 (1件)： 特許業務法人 ユニアス国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-092596
公開番号（公開出願番号）：特開2014-215818
出願日： 2013年04月25日
公開日（公表日）： 2014年11月17日
要約：
【課題】多方向に新たなサンプル点を得るための解析に適したクラスタ分析方法を提供する。【解決手段】第1の特性値を表すx座標軸および第2の特性値を表すy座標軸を有する直交座標平面に複数のサンプル点をプロットした場合に、複数のサンプル点を極座標で表現するために必要となる原点(x0,y0)を直交座標平面上に決定する。複数のサンプル点について各々のサンプル点の第1の特性値xi及び第2の特性値yiを、原点(x0,y0)からサンプル点までの距離ri及び原点(x0,y0)からサンプル点への向きを示す角度θiに座標変換する。複数のサンプル点について、距離riを評価対象とし、評価対象の値が近似するサンプル点同士を同一のクラスタに分類するクラスタ分析を行う。【選択図】図9B
請求項（抜粋）：
複数の設計変数を有するサンプル点を複数生成するステップと、 生成した複数のサンプル点について各々の設計変数に基づきタイヤ性能に関する第1の特性値および第2の特性値を算出するステップと、 前記第1の特性値を表すx座標軸および前記第2の特性値を表すy座標軸を有する直交座標平面に前記複数のサンプル点をプロットした場合に、前記複数のサンプル点を極座標で表現するために必要となる原点を前記直交座標平面上に決定するステップと、 前記複数のサンプル点について各々のサンプル点の第1の特性値及び第2の特性値を、前記原点からサンプル点までの距離及び前記原点からサンプル点への向きを示す角度に座標変換するステップと、 前記複数のサンプル点について、前記距離を評価対象とし、当該評価対象の値が近似するサンプル点同士を同一のクラスタに分類するクラスタ分析を行うステップと、 を含むクラスタ分析方法。
IPC (2件)：
G06F 17/50 ,  B60C 19/00
FI (3件)：
G06F17/50 612H ,  G06F17/50 680Z ,  B60C19/00 Z
Fターム (4件)：
5B046AA04 ,  5B046JA04 ,  5B046JA07 ,  5B046JA08
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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引用文献：
出願人引用 (1件)
  • パフォーマンス評価データによる工場の分類法に関する研究:KPI/KAI総合指標の極座標表示とクラスタ
審査官引用 (1件)
  • パフォーマンス評価データによる工場の分類法に関する研究:KPI/KAI総合指標の極座標表示とクラスタ

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