特許

J-GLOBAL ID：201403074651600188

解析方法および解析装置

発明者： 山田 渉 ,  杉山 隆利 ,  野島 俊雄 ,  日景 隆
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社 ,  国立大学法人北海道大学
代理人 (1件)： 特許業務法人 志賀国際特許事務所
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-138530
公開番号（公開出願番号）：特開2012-003546
特許番号：特許第5441063号
出願日： 2010年06月17日
公開日（公表日）： 2012年01月05日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 金属壁に囲まれた構造物内の送信波源からの放射電磁界を、FDTD法を用いて解析する解析方法であって、 第1の電磁界成分算出部が、第2の電磁界成分算出工程で算出された電磁界の値のうち、アンテナと仮想回路部との接続点での電磁界の値を用いて、FDTD法により解析空間における電磁界の値を算出する第1の電磁界成分算出工程と、 第2の電磁界成分算出部が、前記第1の電磁界成分算出工程で算出された電磁界の値のうち、前記アンテナと前記解析空間との接続点での値を用いて、FDTD法により前記仮想回路部における電磁界の値を算出する第2の電磁界成分算出工程と、 を備え、 前記解析空間は、波源を含む解析モデルが配置され、前記アンテナを介して前記仮想回路部と接続され、 前記仮想回路部は、前記解析空間領域とは別の空間領域に設けられ前記アンテナを介して解析空間と接続され、4側面を完全導体境界条件とした空間内に配置した接続点、電圧源および吸収境界部からなるアンテナ給電用の給電回路であり、 前記第1の電磁界成分算出工程と前記第2の電磁界成分算出工程とを同期して行う ことを特徴とする解析方法。

IPC (3件)：

G06F 17/50 ( 200 6.01) ,  G01R 29/08 ( 200 6.01) ,  G01R 29/10 ( 200 6.01)

FI (3件)：

G06F 17/50 612 H ,  G01R 29/08 Z ,  G01R 29/10 B

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 電磁界解析装置、電磁界解析方法、電磁界解析プログラムおよび場解析装置。
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-073329   出願人：公立大学法人首都大学東京
• 電磁環境解析方法、電磁環境解析プログラム及びそのプログラムを記録した記録媒体
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2002-197574   出願人：科学技術振興事業団
• 電磁界解析プログラム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-170895   出願人：シャープ株式会社
• シミュレーション装置、シミュレーションプログラム、シミュレーションプログラムが格納された記録媒体およびシミュレーション方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-269423   出願人：シャープ株式会社

引用文献：

審査官引用 (1件)

• 時間領域境界積分方程式にもとづくFDTD法の吸収境界条件