特許
J-GLOBAL ID：201403077536450007
磁性システムを特徴付けるための装置および方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人HARAKENZO WORLD PATENT & TRADEMARK
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-028254
公開番号（公開出願番号）：特開2012-185155
特許番号：特許第5643776号
出願日： 2012年02月13日
公開日（公表日）： 2012年09月27日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 磁性システムの初期化された入力パラメータの組に基づいて上記磁性システムを特徴付けるための装置であって、
上記磁性システムにおける磁界分布を測定するための手段と、
上記磁性システムの最適期待磁界分布を決定するための手段と、
を備えており、
上記磁界分布を測定するための手段は、磁界カメラ装置であり、
上記最適期待磁界分布を決定するための手段は、上記入力パラメータの組の中から選択された1または複数の入力パラメータを最適化することにより、上記最適期待磁界分布を決定するものであって、
i)予め計算されたシミュレーションデータを含む期待磁界分布を、理論的シミュレーションモデルを用いて、上記入力パラメータの組に基づいて決定するための手段と、
ii)上記期待磁界分布と上記測定された磁界分布の値とを比較するための手段と、
iii)上記予め計算されたシミュレーションデータを再計算することなく、最適化スキームを用いて、上記磁性システムの最適期待磁界分布を取得するための手段と、
を含んでいる、
ことを特徴とする装置。
IPC (2件)：
G01R 33/10 ( 200 6.01)
, G06T 1/00 ( 200 6.01)
G01R 33/10
, G06T 1/00 300
