特許
J-GLOBAL ID：201403080290598043
二重化光線路の光路遅延測定方法とその測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
蔵田 昌俊
, 小出 俊實
, 峰 隆司
, 野河 信久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-268591
公開番号（公開出願番号）：特開2014-115158
出願日： 2012年12月07日
公開日（公表日）： 2014年06月26日
要約：
【課題】本線路に対する副線路の正確な光路遅延の把握及び長短判別を光線路の一方端側から測定可能とする。【解決手段】伝送装置11,12間の光線路の一方端側から信号光を入射し、他方端側に設置されている反射フィルタ118にて反射した信号光を本線路(現用光線路)18及び副線路(迂回光線路)19に分岐し、副線路側の信号光の波長を他の波長と切り替えて本線路側の信号光と合波し、WDMカプラ17で波長別に分岐して、それぞれの信号光から得られる光電流について、遅延を関数とした相互相関関数を演算することで本線路18に対する副線路19の遅延を測定する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
伝送装置間を結ぶ光ファイバによる本線路に対して光ファイバによる副線路の両端部を第1及び第2の光カプラにより結合して構成される二重化光線路について、光路遅延τiを判別する光路遅延測定方法であって、
前記第1の光カプラの空きポートから時間tの関数である第1の波長λ1のランダムパルス光信号を前記本線路へ送出し、
前記本線路を通過して前記第2の光カプラから送出されるランダムパルス光信号を第1の波長λ1の反射フィルタにて反射させ、
前記反射されたランダムパルス光信号を前記第2の光カプラにて二分岐して前記本線路及び副線路に入射し、
前記副線路にて前記反射されたランダムパルス光信号を第1の波長λ1から当該波長とは異なる第2の波長λ2へ波長変換し、
前記第2の波長λ2に変換されたランダムパルス光信号を、前記本線路を通過する前記反射された第1の波長λ1のランダムパルス光信号と第1の光カプラで合波し、
前記合波されたランダムパルス光信号を、波長分割光カプラで第1の波長λ1と第2の波長λ2それぞれのランダムパルス光信号に分波し、
前記分波された第1の波長λ1のランダムパルス光信号の光電流f(t)を検出し、
前記分波された第2の波長λ2のランダムパルス光信号の光電流g(t)を検出し、
前記光電流f(t) ,g(t) を規格化した後、遅延τを関数とした次式の相互相関関数ζ(τ)を算出し、
ζ(τ)=∫f(t)g(t-τ)dt
ζ(τi)=1となるτiを前記二重化光線路の光路遅延として測定することを特徴とする二重化光線路の光路遅延測定方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (1件)：
引用特許：
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