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J-GLOBAL ID：201502210286361351   整理番号：15A0726973

走査型イオンコンダクタンス顕微鏡を用いたセネッセンス細胞の表面形状測定

著者 (9件)： 井田大貴 (東北大 大学院) ,  高橋康史 (東北大 大学院) ,  高橋康史 (東北大 AIMR) ,  高橋康史 (JST-さきがけ) ,  松前義治 (東北大 大学院) ,  伊野浩介 (東北大 大学院) ,  珠玖仁 (東北大 大学院) ,  末永智一 (東北大 大学院) ,  末永智一 (東北大 AIMR)
資料名： 電気化学会大会講演要旨集(CD-ROM)
巻： 82nd  ページ： ROMBUNNO.3M02  発行年： 2015年03月09日 
JST資料番号： Y0048B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *走査型トンネル顕微鏡 ,...
準シソーラス用語： *走査型イオンコンダクタンス顕微鏡 ,...

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分類 (2件)： 電気分析一般  (CC05010C) ,  生体膜一般  (EF04010G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 走査型イオンコンダクタンス顕微鏡 ,  細胞 ,  表面形状測定