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J-GLOBAL ID:201502216244513673   整理番号:15A1347433

電流コラプスフリーを実現する新ドレインホール注入型GaN-GITの開発

Development of Current-collapse-free GaN-GIT by utilizing Hole Injection from Drain
著者 (11件):
資料名:
巻: EDD-15  号: 87-105  ページ: 97-102  発行年: 2015年10月29日 
JST資料番号: Z0910A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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GaNパワー半導体の電子がトラップされ,オン抵抗が増大する電流コラプス現象の発現を抑制するため,ドレイン近傍に配置したp型GaN領域からホールを注入するHD-GITを開発し,有効性を検証した。電流コラプス現象によるGaNデバイスのスイッチング時のオン抵抗が悪化し,その原因はドレインの高電界によりデバイス表面や内部に電子がトラップされるためであることを指摘した。トラップされた電子を消滅させるため,ドレイン近傍にp型のGaN領域を新設し,p型とn型の電極を配置したHD-GITを開発した。HD-GITの動作解析と信頼性について述べるとともに,850Vまでのコラプスフリーを実現し,大きな電流電圧範囲で安全に動作し,高速スイッチングも可能であることを示した。
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分類 (1件):
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引用文献 (6件):
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