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J-GLOBAL ID：201502230313523483   整理番号：15A0745857

ミュー粒子のX線測定による非破壊的元素深度プロファイル解析

Nondestructive Elemental Depth-Profiling Analysis by Muonic X-ray Measurement

著者 (14件)： NINOMIYA Kazuhiko (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  KUBO Michael K. (International Christian Univ., Tokyo, JPN) ,  NAGATOMO Takashi (High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Ibaraki, JPN) ,  HIGEMOTO Wataru (Japan Atomic Energy Agency, Ibaraki, JPN) ,  ITO Takashi U. (Japan Atomic Energy Agency, Ibaraki, JPN) ,  KAWAMURA Naritoshi (High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Ibaraki, JPN) ,  STRASSER Patrick (High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Ibaraki, JPN) ,  SHIMOMURA Koichiro (High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Ibaraki, JPN) ,  MIYAKE Yasuhiro (High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Ibaraki, JPN) ,  SUZUKI Takao (Shibaura Inst. of Technol., Saitama, JPN) ,  KOBAYASHI Yoshio (Univ. Electro-Communications, Tokyo, JPN) ,  SAKAMOTO Shinichi (Japan Atomic Energy Agency, Ibaraki, JPN) ,  SHINOHARA Atsushi (Osaka Univ., Osaka, JPN) ,  SAITO Tsutomu (National Museum of Japanese History, Chiba, JPN)
資料名： Analytical Chemistry  (Analytical Chemistry)
巻： 87  号： 9  ページ： 4597-4600  発行年： 2015年05月05日 
JST資料番号： A0395A  ISSN： 0003-2700  CODEN： ANCHAM  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 元素分析は自然科学に関連した全ての研究分野に対する最も基本的で,必須な技術の一つである。化学的分離,光蛍光および吸光分光分析,質量分析,核活性化などの核プロセスなど,多くの元素分析法が開発されている。最近著者らの研究チームドリームX(ミュー粒子X線によるダメージなしで一選択的元素分析)は10年の研究の後,非破壊的な深さプロファイリング元素分析法を開発した。この方法は新しいタイプのプローブ,ミューオンが物質で停止したとき発光する高エネルギーミューオンX線および負のミューオン粒子を用いるものである。本論文では考古学試料にこの元素分析法を応用し,標準物質を用い定量的非破壊的なマイクロメートル深度のプロファイリングを達成した。

シソーラス用語： *μ粒子 ,  元素分析 ,  *考古学 ,  測深 ,  特徴抽出 ,  定量分析 ,  *X線分光分析
準シソーラス用語： プロファイリング ,  ミューオン ,  深度測定

分類 (1件)： X線技術  (BA02060D)

タイトルに関連する用語 (5件)： ミュー粒子 ,  X線 ,  元素 ,  深度プロファイル ,  解析