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J-GLOBAL ID：201502296887711343   整理番号：15A0582468

国際宇宙ステーションGLIMSミッションにより観測されたホイスラを用いた電離層F層の電子密度推定

著者 (12件)： 鈴木克徳 (電通大) ,  柿沼遠方 (電通大 大学院) ,  芳原容英 (電通大 大学院) ,  LINSCOTT I.R. (スタンフォード大) ,  INAN U.S. (スタンフォード大) ,  佐藤光輝 (北大) ,  高橋幸弘 (北大) ,  牛尾知雄 (大阪大) ,  河崎善一郎 (大阪大) ,  森本健志 (近畿大) ,  山崎敦 (JAXA) ,  鈴木睦 (JAXA)
資料名： 大気電気学会誌
巻： 9  号： 1  ページ： 92-93  発行年： 2015年04月20日 
JST資料番号： L1469B  ISSN： 1882-0549  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 宇宙ステーション ,  *F層 ,  *電子密度 ,  ホイスラ波 ,  VLF波 ,  雷放電 ,  国際宇宙ステーション ,  飛翔体 ,  気体放電
準シソーラス用語： GLIMS

分類 (2件)： VLF放射  (DC04070K) ,  電離層・熱圏  (DC04050O)

タイトルに関連する用語 (8件)： 宇宙ステーション ,  ミッション ,  観測 ,  ホイスラ ,  電離層 ,  F層 ,  電子密度 ,  推定