特許
J-GLOBAL ID:201503000460251455
電流供給装置及び半導体素子製造方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人創成国際特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-169794
公開番号(公開出願番号):特開2015-038442
特許番号:特許第5781128号
出願日: 2013年08月19日
公開日(公表日): 2015年02月26日
請求項(抜粋):
【請求項1】 複数の導体部材を配列してなる導体部材群を備え、該導体部材群を経て対象物に交流電流を供給する電流供給装置であって、
前記交流電流の供給に際して各導体部材を流れる電流が均一になるように、前記導体部材群において外部側に位置する導体部材のインピーダンスを、内側に位置する導体部材のインピーダンスよりも大きくしたことを特徴とする電流供給装置。
IPC (3件):
G01R 1/067 ( 200 6.01)
, G01R 1/073 ( 200 6.01)
, G01R 31/26 ( 201 4.01)
FI (3件):
G01R 1/067 C
, G01R 1/073 D
, G01R 31/26 J
引用特許:
出願人引用 (5件)
-
パワーデバイスのテスト装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2010-118116
出願人:三菱電機株式会社
-
素子試験装置及び接触子
公報種別:公開公報
出願番号:特願2008-229659
出願人:富士電機システムズ株式会社
-
プローブカード
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-217740
出願人:株式会社日立製作所, 日立コンピユータエンジニアリング株式会社
全件表示
審査官引用 (5件)
-
パワーデバイスのテスト装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2010-118116
出願人:三菱電機株式会社
-
素子試験装置及び接触子
公報種別:公開公報
出願番号:特願2008-229659
出願人:富士電機システムズ株式会社
-
プローブカード
公報種別:公開公報
出願番号:特願平3-217740
出願人:株式会社日立製作所, 日立コンピユータエンジニアリング株式会社
全件表示
前のページに戻る