特許
J-GLOBAL ID：201503000661423156
測定装置およびその制御方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
大塚 康徳
, 高柳 司郎
, 大塚 康弘
, 木村 秀二
, 下山 治
, 永川 行光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-083995
公開番号（公開出願番号）：特開2014-240830
出願日： 2014年04月15日
公開日（公表日）： 2014年12月25日
要約：
【課題】 物体の光学特性を短時間に測定する。【解決手段】 所定方向に移動し、測定対象物を照明するライン光源104、および、ライン光源に照明された測定対象物107を撮影する撮影部101を有する測定装置は、測定対象物107の特性に応じてライン光源104の走査距離を設定し、ライン光源104の移動および撮影部101による撮影を制御し、撮影部101が撮影した複数の画像から測定対象物107の反射特性を推定する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
所定方向に移動し、測定対象物を照明するライン状光源と、
前記ライン状光源に照明された測定対象物を撮影する撮影部と、
前記測定対象物の特性に応じて前記ライン状光源の走査距離を設定し、前記ライン状光源の点灯消灯および移動、並びに、前記撮影部による撮影を制御する制御手段と、
前記撮影部が撮影した複数の画像から前記測定対象物の反射特性を推定する推定手段とを有する測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (11件)：
2G059AA02
, 2G059BB08
, 2G059EE02
, 2G059FF01
, 2G059GG02
, 2G059GG03
, 2G059GG06
, 2G059GG07
, 2G059KK04
, 2G059MM01
, 2G059MM10
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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引用文献：
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