特許
J-GLOBAL ID：201503002357770640
拡張被写界深度を有する画像を得るマシンビジョン検査システム及び方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
稲葉 良幸
, 大貫 敏史
, 江口 昭彦
, 内藤 和彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-240411
公開番号（公開出願番号）：特開2015-104136
出願日： 2014年11月27日
公開日（公表日）： 2015年06月04日
要約：
【課題】 拡張被写界深度を有する画像を得るマシンビジョン検査システム及び方法を提供する。【解決手段】 マシンビジョン検査システムの撮像システムを動作させて、拡張被写界深度(EDOF)画像を提供する方法。この方法は、(a)視野内にワークピースを配置することと、(b)撮像システム内の要素間の間隔を巨視的に調整せずに、ワークピースの表面高さを含む合焦範囲内で、合焦軸方向に沿った複数の合焦位置にわたって撮像システムの合焦位置を周期的に変調することと、(c)合焦範囲内で合焦位置を変調しながら、画像積分時間中に第1の予備画像を露光することと、(d)第1の予備画像を処理することにより、画像積分時間中に合焦範囲内で生じる劣化画像寄与を除去し、単一の焦点位置で撮像システムが提供するよりも被写界深度の深いEDOF画像を提供することとを含む。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
マシンビジョン検査システムの撮像システムを動作させて、単一の焦点位置において前記撮像システムが提供する被写界深度よりも深い被写界深度を有する少なくとも1つの画像を提供する方法であって、
(a)前記マシンビジョン検査システムの視野内にワークピースを配置することと、
(b)前記撮像システムの合焦位置を、前記撮像システム内の要素間の間隔を巨視的に調整せずに、前記ワークピースの表面高さを含む合焦範囲内で合焦軸方向に沿った複数の合焦位置にわたって、少なくとも300Hzの周波数で合焦位置を周期的に変調することと、
(c)前記合焦範囲内で前記合焦位置を変調しながら、画像積分時間中に第1の予備画像を露光することと、
(d)前記画像積分時間中に前記合焦範囲内で生じた劣化画像寄与を除去し、単一の焦点位置で前記撮像システムが提供するよりも広い範囲にわたって実質的に合焦された被写界深度の深い拡張被写界深度(EDOF)画像を提供するように、前記第1の予備画像を処理することと、
を含む、方法。
IPC (4件)：
H04N 5/225
, G01N 21/84
, G01B 11/00
, H04N 5/232
H04N5/225 C
, G01N21/84 D
, G01B11/00 H
, H04N5/225 F
, H04N5/232 Z
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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