特許
J-GLOBAL ID：201503003038685158
検証支援プログラム、および検証支援方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
酒井 昭徳
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-265844
公開番号（公開出願番号）：特開2015-121981
出願日： 2013年12月24日
公開日（公表日）： 2015年07月02日
要約：
【課題】検証の効率化を図ること。【解決手段】検証支援装置100は、複数の組の各々について、組の良品情報が示す良品率に対応する複数の第1変数の各値と、組のセンスアンプの性能値と、に基づく読み出し時間Treadを取得する。検証支援装置は、関数f(VOS,σC)を、取得した各読み出し時間Treadによって生成する。検証支援装置100は、センスアンプの良品率の所定範囲に対応する複数の第2変数の各値の複数の第1組み合わせ候補から、関数fに基づき算出した読み出し時間Treadが所定条件を満たす第1組み合わせを探索する。検証支援装置100は、探索によって得られた第1組み合わせに基づき導出したメモリセルの良品率に対応する各値の複数の第2組み合わせ候補から、第1組み合わせに基づくセンスアンプの性能値と第2組み合わせ候補とに基づく読み出し時間Treadが所定条件を満たす第2組み合わせを探索する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
コンピュータに、
検証の対象回路に含まれる第1回路の性能値と、前記対象回路に含まれる前記第1回路と異なる第2回路の良品率を示す良品情報と、の複数の組を取得し、
取得した前記複数の組の各々について、前記第2回路の設計に関する複数の第1確率変数の各値であって、前記組の前記良品情報が示す前記良品率に対応する各値と、前記組の前記性能値と、に基づく前記対象回路の性能値を取得し、
前記第1回路の性能値と、前記第2回路の良品率を示す良品情報と、に基づいて前記対象回路の性能値を算出可能な関数を、取得した前記対象回路の各性能値によって生成し、
前記第1回路の設計に関する複数の第2確率変数の各値であって、前記第1回路の良品率の所定範囲に対応する各値の複数の第1組み合わせ候補から、前記第1組み合わせ候補に基づく前記第1回路の性能値と、前記第1組み合わせ候補に基づき導出した前記第2回路の良品率を示す良品情報と、を生成した前記関数に与えて算出した前記対象回路の性能値が所定条件を満たす第1組み合わせを探索し、
探索によって得られた前記第1組み合わせに基づき導出した前記第2回路の良品率に対応する各値の複数の第2組み合わせ候補から、前記第1組み合わせに基づく前記第1回路の性能値と前記第2組み合わせ候補とに基づく前記対象回路の性能値が所定条件を満たす第2組み合わせを探索する、
処理を実行させることを特徴とする検証支援プログラム。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G06F17/50 662G
, G06F17/50 652C
5B046AA08
, 5B046BA03
, 5B046JA04
