特許
J-GLOBAL ID:201503015874348628

SiC結晶の結晶成長方法およびSiC結晶基板

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人快友国際特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-275589
公開番号(公開出願番号):特開2013-124215
特許番号:特許第5829508号
出願日: 2011年12月16日
公開日(公表日): 2013年06月24日
請求項(抜粋):
【請求項1】 第1のSiC結晶層と、少なくとも1層のグラフェン(graphene)と、第2のSiC結晶層が順に積層しているSiC結晶基板であって、 第1のSiC結晶層の欠陥密度に比して第2のSiC結晶層の欠陥密度が小さいことを特徴とするSiC結晶基板。
IPC (4件):
C30B 29/36 ( 200 6.01) ,  C30B 19/12 ( 200 6.01) ,  H01L 21/205 ( 200 6.01) ,  H01L 21/208 ( 200 6.01)
FI (4件):
C30B 29/36 A ,  C30B 19/12 ,  H01L 21/205 ,  H01L 21/208 D
引用特許:
審査官引用 (3件)

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