特許
J-GLOBAL ID：201503018053044182

分析装置及び試薬劣化度算出方法

発明者：
石井 章夫

石井 章夫 について

, 
俣野 芳朗

俣野 芳朗 について


出願人/特許権者：
株式会社堀場製作所

株式会社堀場製作所 について

, 
株式会社 堀場アドバンスドテクノ

株式会社 堀場アドバンスドテクノ について


代理人 (3件)： 西村 竜平 ,  齊藤 真大 ,  三宅 紘子
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-273328
公開番号（公開出願番号）：特開2015-127675
出願日： 2013年12月27日
公開日（公表日）： 2015年07月09日
要約：
【課題】効率よく試薬を使うことができ、かつ、測定に対する信頼性や安心感を向上させることのできる分析装置を提供する。【解決手段】試薬を貯留する試薬容器31と、試薬容器31から導入した試薬を分析の対象となるサンプル液に混合させて反応させる混合反応部4と、混合反応部4での反応に基づいて前記サンプル液を分析する分析部5、6とを具備した分析装置100において、試薬の温度を測定する温度センサTと、温度センサTで測定した試薬の測定温度履歴に基づいて、試薬の劣化を示す指数である劣化指数を算出する劣化指数算出部とを設けた。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
試薬を貯留する試薬容器と、前記試薬容器から導入した試薬を分析の対象となるサンプル液に混合させて反応させる混合反応部と、前記混合反応部での反応に基づいて前記サンプル液を分析する分析部とを具備した分析装置において、 前記試薬の温度を測定する温度センサと、前記温度センサで測定した試薬の測定温度履歴に基づいて、前記試薬の劣化を示す指数である劣化指数を算出する劣化指数算出部とをさらに具備することを特徴とする分析装置。
IPC (4件)：
G01N 35/00 ,  G01N 31/00 ,  G01N 31/22 ,  G01N 21/77
FI (7件)：
G01N35/00 C ,  G01N35/00 F ,  G01N31/00 F ,  G01N31/00 N ,  G01N31/00 Y ,  G01N31/22 122 ,  G01N21/77 B
Fターム (42件)：
2G042AA01 ,  2G042BA05 ,  2G042BA09 ,  2G042CA02 ,  2G042CB03 ,  2G042DA02 ,  2G042DA03 ,  2G042DA08 ,  2G042FA01 ,  2G042FA02 ,  2G042FA04 ,  2G042FA05 ,  2G042FA11 ,  2G042FA19 ,  2G042FA20 ,  2G042FB02 ,  2G042HA01 ,  2G042HA02 ,  2G054AA02 ,  2G054AB07 ,  2G054CA10 ,  2G054CE02 ,  2G054EA04 ,  2G054EA06 ,  2G054EB01 ,  2G054FA12 ,  2G054FA32 ,  2G054FA33 ,  2G054FA37 ,  2G054GA01 ,  2G054GA02 ,  2G054GA03 ,  2G054JA04 ,  2G054JA05 ,  2G054JA11 ,  2G058AA01 ,  2G058EA05 ,  2G058FA01 ,  2G058GA03 ,  2G058GB01 ,  2G058GB05 ,  2G058GB10
引用特許：
出願人引用 (10件)
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審査官引用 (5件)
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