特許
J-GLOBAL ID：201503020108455970

物理量計測システム、物理量計測方法

発明者：
岡本 弘志

岡本 弘志 について

, 
平林 了

平林 了 について


出願人/特許権者：
セイコーエプソン株式会社

セイコーエプソン株式会社 について


代理人 (2件)： 上柳 雅誉 ,  渡辺 和昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-263486
公開番号（公開出願番号）：特開2015-118070
出願日： 2013年12月20日
公開日（公表日）： 2015年06月25日
要約：
【課題】長期間計測が可能な物理量計測システムを提供する。【解決手段】物理量計測システム10は、第1物理量計測器1と、第2物理量計測器2と、加振部7と、制御部8と、を備える。加振部7は、一定期間毎に第1物理量計測器1と第2物理量計測器2に振動を加える。制御部8は、振動後に第1物理量計測器1と第2物理量計測器2との出力信号を比較し、比較結果に基づいて補正を行う。さらに制御部8は、第1物理量計測器1からの出力信号の異常を検知した場合に、計測用の物理量計測器を第1物理量計測器1から補正を行った第2物理量計測器2に切り替える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
第1物理量計測器と第2物理量計測器とを含む物理量計測器と、 前記物理量計測器の各々に対して振動を加える加振部と、 前記物理量計測器および前記加振部を制御する制御部と、を備え、 前記加振部によって、前記物理量計測器の各々に対して振動を加えた後に、 前記制御部は、前記第1物理量計測器と前記第2物理量計測器との出力信号を比較し、前記比較の結果に基づいて前記出力信号の補正を行い、 且つ、前記第1物理量計測器からの出力信号の異常を検知した場合に、計測を前記第1物理量計測器から前記補正を行った前記第2物理量計測器に切り替えることを特徴とする物理量計測システム。
IPC (1件)：
G01P 21/00
FI (1件)：
G01P21/00
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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