特許

J-GLOBAL ID：201503042703569827

X線撮像方法及びX線撮像装置

発明者： 志村 考功 ,  渡部 平司 ,  細井 卓治 ,  森本 直樹 ,  藤野 翔
出願人/特許権者： 国立大学法人大阪大学
代理人 (1件)： 前井 宏之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-216577
公開番号（公開出願番号）：特開2015-077289
出願日： 2013年10月17日
公開日（公表日）： 2015年04月23日
要約：

【課題】空間分解能を高めるとともに、露光時間を短縮できるX線撮像方法を提供する。【解決手段】X線検出面11aと複数のX線光源12との間に配置された被写体Obに対し、複数のX線光源12の各々から同時にX線が照射される。X線検出面11aに照射されたX線xrの強度が検出されて、その検出されたX線xrの強度に対応する第1画像信号が生成される。複数のX線光源12のそれぞれの位置情報と、複数のX線光源12のそれぞれのX線強度情報とに基づいて第1画像信号がデコンボリューションされることにより、第2画像信号が生成されて、画像が生成される。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

X線検出面と複数のX線光源との間に配置された被写体に対し、前記複数のX線光源の各々から同時にX線を照射するステップと、 前記X線検出面に照射されたX線の強度を検出し、前記検出されたX線の強度に対応する第1画像信号を生成するステップと、 前記複数のX線光源のそれぞれの位置情報と、前記複数のX線光源のそれぞれのX線強度情報とを用いて、前記第1画像信号をデコンボリューションすることにより、第2画像信号を生成するステップと、 を包含する、X線撮像方法。

IPC (2件)：

A61B 6/00 ,  G01N 23/04

FI (4件)：

A61B6/00 330Z ,  A61B6/00 300B ,  A61B6/00 300G ,  G01N23/04

Fターム (19件)：

2G001AA01 ,  2G001AA10 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001GA06 ,  2G001HA07 ,  2G001HA13 ,  4C093AA07 ,  4C093CA02 ,  4C093CA03 ,  4C093EA02 ,  4C093EA03 ,  4C093EA06 ,  4C093EA12 ,  4C093EB17 ,  4C093FD04 ,  4C093FF21 ,  4C093FF41

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 放射線画像撮影システム及び放射線画像撮影方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2006-257762   出願人：コニカミノルタエムジー株式会社