特許
J-GLOBAL ID：201503060863741675
自動分析装置および分析方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
春日 讓
, 猪野木 雄一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-153092
公開番号（公開出願番号）：特開2015-021952
出願日： 2013年07月23日
公開日（公表日）： 2015年02月02日
要約：
【課題】試料における検出対象成分の濃度に対して、より精度の高い分析結果を得られる分析方法を容易に判断することができる自動分析装置および分析方法を提供する。【解決手段】予め定めた演算基準値に基づいて散乱光量検量線及び吸光度検量線の検量線上に求めた変換基準点を用いて、一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換する座標系変換式を演算し、この座標系変換式を用いて一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換し、演算基準点を含む範囲であって、座標系変換式により変換された座標系における一方の検量線と他方の検量線とが重複しているかどうかを判定するために予め定めた重複条件を満たすような範囲を算出し、算出された重複範囲に基づいて、散乱光測定機構により測定を行う測定範囲と、吸光度測定機構により測定を行う測定範囲とを算出する。【選択図】 図7
請求項（抜粋）：
分析対象の試料を収容した試料容器と、
試料の分析に用いる試薬を収容した試薬容器と、
前記試料と試薬とを混合した反応液を収容反応する反応容器と、
前記試料容器から前記反応容器に試料を分注する試料分注機構と、
前記試薬容器から前記反応容器に試薬を分注する試薬分注機構と、
散乱光測定用の光源から前記反応容器に収容された反応液に照射された光の散乱光量を測定する散乱光測定機構と、
前記反応容器に収容された反応液の吸光度を測定する吸光度測定機構と、
予め用意した成分が既知の基準試料に係る反応液の前記散乱光測定機構による測定結果から散乱光量検量線を演算する散乱光量検量線演算部と、
前記基準試料に係る反応液の前記吸光度測定機構による測定結果から吸光度検量線を演算する吸光度検量線演算部と、
予め定めた演算基準値に基づいて前記散乱光量検量線及び前記吸光度検量線の検量線上に求めた変換基準点を用いて、一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換する座標系変換式を演算する変換式演算部と、
前記座標系変換式を用いて一方の検量線の座標系を他方の検量線の座標系に変換する座標系変換部と、
前記演算基準点を含む範囲であって、前記座標系変換式により変換された座標系における一方の検量線と他方の検量線とが重複しているかどうかを判定するために予め定めた重複条件を満たすような範囲を算出する重複範囲演算部と、
前記重複範囲演算部により算出された重複範囲に基づいて、前記散乱光測定機構により測定を行う測定範囲と、前記吸光度測定機構により測定を行う測定範囲とを算出する測定範囲演算部と
を備えたことを特徴とする自動分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N21/78 Z
, G01N35/00 A
2G054AA02
, 2G054AA07
, 2G054BB05
, 2G054BB10
, 2G054CE01
, 2G054EA04
, 2G054EA05
, 2G054EB05
, 2G054EB14
, 2G054FA06
, 2G054FA40
, 2G054JA01
, 2G054JA04
, 2G054JA05
, 2G054JA06
, 2G058GA01
, 2G058GD02
