特許
J-GLOBAL ID：201503074991997985
3次元形状計測装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人 谷・阿部特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-143785
公開番号（公開出願番号）：特開2015-017837
出願日： 2013年07月09日
公開日（公表日）： 2015年01月29日
要約：
【課題】光切断法を用い、対象物に形成されたスリット光の反射光を2視点で捉える3次元形状計測装置において、対象物の形状測定をより正確に行うことができるようにする。【解決手段】光源部(20)が発するスリット光から複数のスリット光セグメント(LSM,LSA,LSB)を取り出し、それらを対象物に入射させることで対象物に照射するスリット光を形成する。ここで、光源部が発するスリット光の長手方向の中央部のスリット光セグメント(LSM)については直接的に対象物に入射させるとともに、スリット光の長手方向の端部に相当するスリット光セグメント(LSA,LSB)についてはこれらを反射させて対象物に入射させる。これにより、一のスリット光セグメントの死角部位に対しては他のスリット光セグメントによる補完、また光量不足となる部位に対してはスリット光セグメント同士の重畳が行われる。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
相対的に搬送される対象物に対し、前記搬送の方向と交差する方向に長手方向の軸を有するスリット光を照射し、その反射光をカメラ部で撮像して取得した画像に基づいて前記対象物の表面形状を計測する3次元形状計測装置において、
前記対象物に複数のスリット光セグメントを入射させることで前記スリット光が形成されるようにする入射系と、
前記軸を挟んで前記搬送の方向の上流側および下流側に配置され、前記形成されたスリット光の反射光をそれぞれ受光して前記カメラ部に導く出射系と、
を備えたことを特徴とする3次元形状計測装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (34件)：
2F065AA24
, 2F065AA53
, 2F065BB03
, 2F065BB07
, 2F065CC04
, 2F065CC05
, 2F065CC06
, 2F065CC07
, 2F065CC25
, 2F065DD02
, 2F065FF01
, 2F065FF02
, 2F065FF04
, 2F065FF09
, 2F065GG04
, 2F065HH05
, 2F065HH13
, 2F065HH14
, 2F065JJ03
, 2F065JJ08
, 2F065JJ26
, 2F065LL08
, 2F065LL12
, 2F065LL46
, 2F065LL47
, 2F065MM03
, 2F065PP15
, 2F065QQ31
, 2F065UU07
, 2G051AA02
, 2G051AB03
, 2G051BC06
, 2G051CA04
, 2G051CB01
