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J-GLOBAL ID：201602275668687972   整理番号：16A1356774

原子間力顕微鏡を用いた軟質材料の形状測定過程の分子動力学シミュレーション【Powered by NICT】

Molecular dynamics simulation of form measurement process of soft materials using atomic force microscope

著者 (5件)： Cai Yindi (Department of Nanomechanics, Tohoku University, Sendai, Miyagi Japan) ,  Chen Yuan-Liu (Department of Nanomechanics, Tohoku University, Sendai, Miyagi Japan) ,  Shimizu Yuki (Department of Nanomechanics, Tohoku University, Sendai, Miyagi Japan) ,  Ito So (Department of Nanomechanics, Tohoku University, Sendai, Miyagi Japan) ,  Gao Wei (Department of Nanomechanics, Tohoku University, Sendai, Miyagi Japan)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： NEMS  ページ： 156-159  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ダイヤモンドA FMチップを用いた特別な表面プロファイルを持つ軟質基質上の接触モード形状測定過程の分子動力学シミュレーションは,接触挙動と測定した基板の表面プロファイル損傷または歪を調べるために実施した。A FMの接触モード画像化のプロセスは,ナノスクラッチプロセスとして扱うことができる。シミュレーション予測相互作用力,引かき力と垂直力を含む,鋸歯状パターン,原子スティックスリップと呼ばれるを特性化した。,特にA FMチップの下にある表面,測定された基板表面の形状はA FMチップと基板表面間の相互作用力の影響を受ける。Copyright 2016 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *軟質材料 ,  セレーション ,  基質 ,  *シミュレーション ,  *形状測定 ,  スティックスリップ ,  キャラクタリゼーション ,  *原子間力顕微鏡 ,  ダイヤモンド ,  垂直力 ,  相互作用力 ,  画像化 ,  コンタクトモード ,  *分子動力学シミュレーション ,  鉱石 ,  宝石
準シソーラス用語： *軟質 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (4件)： パターン認識  (JE07000S) ,  信号理論  (ND02020G) ,  音響信号処理  (BB03050C) ,  音声処理  (JE05000E)

タイトルに関連する用語 (5件)： 原子間力顕微鏡 ,  軟質材料 ,  形状測定 ,  過程 ,  分子動力学シミュレーション