蛍光X線分析用の試料処理方法

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：杉本修司 , 野田雅士 , 堤健郎
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-121995
公開番号（公開出願番号）：特開2013-246137
特許番号：特許第6003233号
出願日： 2012年05月29日
公開日（公表日）： 2013年12月09日
請求項（抜粋）：

【請求項1】微量の粉末試料を蛍光X線分析するために処理する方法であって、フッ化リチウム粉末からなる基材と、ホウ素、炭素、窒素および酸素のうちの少なくとも1つを含む粉末のバインダーとを、バインダーの含有率が0wt%よりも大きく50wt%以下になるように混合した混合基材の表面を押し固め、その混合基材の表面に粉末試料を載置して加圧成形し、混合基材と粉末試料とを一体化して分析試料とする試料処理方法。

IPC (2件)：