評価試料の作製方法、分析方法、電子部品材料の生産方法、電子部品及び評価試料作製装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：長谷川芳樹 , 寺崎史朗 , 阿部豊隆
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-399894
公開番号（公開出願番号）：特開2005-164268
出願日： 2003年11月28日
公開日（公表日）： 2005年06月23日
要約：

【課題】精密な測定結果が得られる評価試料の作製方法、評価試料、電子部品材料の生産方法、電子部品、このような評価試料を作製するための評価試料作製装置を提供する。【解決手段】ガラスビードの作製において、その表面をガスバーナーで加熱し、表面上に形成された気泡を消滅させる。これにより、ガラスビードが均一になる。しかる後、このガラスビードを評価すると、精密な測定結果を得ることができる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

試料粉末と共に融剤を溶融してガラスビードを形成する工程と、前記ガラスビードの表面に発生した気泡が消滅するように前記ガラスビードの表面を加熱する工程と、を備えることを特徴とする評価試料の作製方法。

IPC (2件)：

G01N1/28 , G01N23/223

FI (2件)：

G01N1/28 S , G01N23/223

Fターム (24件)：

2G001AA01 , 2G001BA04 , 2G001CA01 , 2G001GA01 , 2G001JA12 , 2G001KA01 , 2G001MA04 , 2G001RA01 , 2G001RA03 , 2G001RA20 , 2G052AA11 , 2G052AA14 , 2G052AD32 , 2G052AD52 , 2G052DA26 , 2G052EB06 , 2G052EB11 , 2G052FD14 , 2G052GA19 , 2G052HC03 , 2G052HC17 , 2G052HC22 , 2G052JA09 , 2G052JA11

引用特許：

出願人引用 (4件)

蛍光X線分析用ガラスビード試料の調整方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-144918 出願人：三菱マテリアル株式会社
蛍光X線分析用試料調製方法
公報種別：公開公報出願番号：特願平9-221650 出願人：大同特殊鋼株式会社
特公平6-25715号公報

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審査官引用 (4件)

ガラスビード作成装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平5-191886 出願人：株式会社東測研究所, 日本フィリップス株式会社
特開平1-191804
特開平1-191804

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