特許
J-GLOBAL ID：201603009205938182

非線形特性推定装置及び非線形特性推定方法

発明者：
チェヌ・ハオ

チェヌ・ハオ について

, 
リ・レイ

リ・レイ について

, 
タオ・ジェヌニン

タオ・ジェヌニン について


出願人/特許権者：
富士通株式会社

富士通株式会社 について


代理人 (3件)： 伊東 忠重 ,  伊東 忠彦 ,  加藤 隆夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2016-063909
公開番号（公開出願番号）：特開2016-195391
出願日： 2016年03月28日
公開日（公表日）： 2016年11月17日
要約：
【課題】本発明は非線形特性推定装置及び非線形特性推定装置方法を提供する。【解決手段】測定により得られた、測定待ちシステムの、少なくとも2つの周波数ポイントにおける出力信号の基本波のパワー及び調和波のパワーにより、測定待ちシステムの非線形モデルのパラメータを計算することで、測定待ちシステムの非線形特性を簡単且つ迅速に推定することができ、且つ推定結果の正確度が高い。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
非線形特性推定装置であって、 測定された測定待ちシステムの、少なくとも2つの周波数ポイントにおける出力信号の基本波のパワー及び調和波のパワーに基づいて、前記測定待ちシステムの非線形モデルの、各周波数ポイントに対応する各組の非線形係数をそれぞれ計算し、前記少なくとも2つの周波数ポイントのうちの1つの周波数ポイントに対応する非線形係数を前記測定待ちシステムの非線形モデルの非線形係数とする第一計算ユニット; 前記第一計算ユニットが計算した、前記測定待ちシステムの非線形モデルの、各周波数ポイントに対応する各組の非線形係数に基づいて、前記測定待ちシステムの非線形モデルの後置フィルタのレスポンスを計算する第二計算ユニット; 測定された測定待ちシステムの線形フィルタのレスポンス、及び、前記第二計算ユニットが計算した、前記測定待ちシステムの非線形モデルの後置フィルタのレスポンスに基づいて、前記測定待ちシステムの非線形モデルの前置フィルタのレスポンスを計算する第三計算ユニット;及び 前記第一計算ユニットが計算した、前記測定待ちシステムの非線形モデルの非線形係数、前記第二計算ユニットが計算した、前記測定待ちシステムの非線形モデルの後置フィルタのレスポンス、及び、前記第三計算ユニットが計算した、前記測定待ちシステムの非線形モデルの前置フィルタのレスポンスに基づいて、前記測定待ちシステムの非線形特性を推定する推定ユニットを含む、装置。
IPC (1件)：
H04B 17/00
FI (1件)：
H04B17/00 Z
引用特許：
出願人引用 (4件)
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審査官引用 (4件)
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